SpiralTOF™による底質試料の分析 ～Kendrick Mass Defectプロット法の適用～ [MALDI Application]
MSTips No.209
JMS-S3000 ”SpiralTOF™”は、高分解能・高精度で有機化合物の精密質量分析を行うことができる。そのため、低分子量有機化合物であれば、精密質量を基に元素組成を推定することが可能となる。ここでは、環境試料分析への応用例として、東京湾堆積物より抽出した試料を JMS-S3000 で直接測定し、得られたマススペクトルに対し Kendrick Mass Defect に基づくデータ解析手法を適応した例についてご紹介する。
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