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走査電子顕微鏡 (SEM)

生物から材料試料まで、
観察から各種分析まであらゆるご要望に対応いたします

走査電子顕微鏡は、試料の形状から微細構造まで、様々な形態観察に適しています。
各種測定装置と組み合わせる事で「元素分析」「結晶性の分析」など様々な観察と分析が可能です。
また、断面作製装置など各種試料作製装置と組み合わせる事で、断面の観察・分析や、低真空SEMやクライオSEM等により、含水試料の直接観察も可能です。

主要装置

  • 高分解能走査電子顕微鏡

  • 低真空走査電子顕微鏡

  • クライオ走査電子顕微鏡

分析例

  • エネルギー分散型X線分析装置 (EDS)

  • 後方散乱電子解析 (EBSD)

  • 軟X線

分析例

分析例
分析例

実績試料

  • 生物一般組織

  • バクテリア

  • 酵母

  • カビ

  • 植物

  • 毛髪

  • 羊毛

  • 昆虫

  • 食品(パン・うどん・豆腐・米・精肉・卵・乳製品等)

  • 医薬品

  • 化粧品(リンス・石鹸・クリーム・乳液・マスカラ等)

  • 金属

  • 高分子材料(ゴム・プラスチック・フィルム)

  • 機械部品

  • 電子部品

  • 粉体材料

  • ガラス

  • セラミック

観察手法

  • 通常SEM観察

  • クライオSEM観察

  • 低真空観察

  • 低真空クライオ観察

  • 無蒸着高倍観察

  • 断面観察

  • EDS分析

  • EBSD分析

  • CL

  • EBICによるIC故障解析

  • 走査顕微鏡内過熱温度観察(500°Cまで)

日本電子のご提案

TEMやSEM、FIBによる局所的な詳細観察に、µCTによる広範囲な構造の把握、材料の質の解析を加えることで、詳細観察において、情報量のUPや前処理工程の削減に繋がります。

μCT材料評価

電子顕微鏡関係

科学・計測機器サービス事業部
受託グループ

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日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
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