以下の電子光学機器製品についての技術情報を提供いたします。

• 透過電子顕微鏡 (TEM)
• 走査電子顕微鏡 (SEM)
• 電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
• オージェマイクロプローブ (Auger)
• 光電子分光装置 (XPS、ESCA)
• 走査形プローブ顕微鏡 (SPM)
• 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
• 電子顕微鏡周辺機器
• アスベスト繊維の観察・分析関連

透過電子顕微鏡 (TEM)

• 球面収差補正 TEM (200kV) による半導体デバイス評価
• セラミックス粒界の原子・電子構造と機能発現メカニズムの解明
  - 高性能電子顕微鏡 JEM-2100F / Cs Corrector の応用 -
• リチウムイオンの位置特定に成功
  - 世界初の金属イオン観察による位置特定　電子顕微鏡観察 -
• 「小さな分子の形の変化を直接観察」
  〜 世界初の有機分子構造の電子顕微鏡観察：分子の構造変化の動画撮影に成功 〜
  <2007年2月23日発表　独立行政法人・産業技術総合研究所のホームページより>
• 収差補正 STEM における分析能力の向上
• 3D TEM Analysis
• 電子顕微鏡トモグラフィーによる立体構造観察
• 21 世紀の新しい分析電顕コンセプトで開発されたエネルギー分散形 X 線分析装置 JED-2300T
• フィールド・エミッション電子顕微鏡 JEM-2100F
• ナノ解析電子顕微鏡 JEM-2500SE の開発
• JEM-2500SE 〜ナノメートル領域解析ツール〜

走査電子顕微鏡 (SEM)

• Cryo-SEMの応用 2
• Cryo-SEMの応用 1
• 高角度検出反射電子 (High angle backscattered electron)と
  低角度検出反射電子 (Low angle backscattered electron)
• 反射電子 (Backscattered electron)
• プロトコル: バクテリア観察 (重金属染色)
• プロトコル: バクテリア観察(金ラベル)
• ALTOシリーズ(Cryoシステム)の概要
• Cryo-SEMの概要
• 走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（3D）写真の撮影と観察 5
  -ステレオ3Dアナグリフ写真集-
• 走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（3D）写真の撮影と観察 4
  -アナグリフ方式ステレオ写真-
• 走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（3D）写真の撮影と観察 3
  -ステレオメガネの紹介-
• 走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（3D）写真の撮影と観察 2
  -ステレオ写真の見かた-
• 走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（3D）写真の撮影と観察 1
  -ステレオSEM写真の原理-
• ショットキーFE-SEMにおける大電流時のビーム径増大を防ぐ電子光学系とその検証
• Li 電池、触媒研究のサポート −トランスファーベッセル−
• 広領域 SEM/EBSD 法の確立
• 生物組織切片の広域モンタージュ技法
  ・・高精度ステージとオート機能充実による高精細SEM 画像の巨大つなぎ写真作成・・
• 大気圧下における試料を観察できるSEM
• 大気圧下における含水試料の倒立型走査電子顕微鏡（クレアスコープ）による観察
• ClairScope™　薄膜ディッシュ薬品耐性表
• 分析走査電子顕微鏡JSM-7001F の新機能と応用例の紹介 (PDF 892kB)
• 超低加速電圧ＳＥＭによる極表面観察
• SEMでみる浅間山の火山灰
• 低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）JSM-6460LA による広領域元素マッピング
• JSM-6500F の分析性能
• JSM-7400：高品位な表面情報を抽出する超高分解能 SEM
• 低真空 SEM の耐火物試料への応用
• リモート画像データ測定システム
• 汎用走査電子顕微鏡の応用について
• 低真空分析 SEM の絶縁体試料への応用
• 多目的高分解能 TFE SEM による分析
• 低真空 SEM の水質管理への応用

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

• 最新のEPMA紹介　-JXA-8230/JXA-8530F-  (PDF 4.04 MB)
• EPMA におけるカソードルミネセンスの応用
• バイキュービック変換
• マップデータ処理例
• 高空間分解能 X 線像の測定条件の考察
• ビーム径と X 線の発生領域の関係
• EPMA におけるスタンダードレス定量分析の精度向上

オージェマイクロプローブ (Auger)

• JAMP-9500F 用オプション装置の紹介 (2)
• JAMP-9500F 用オプション装置の紹介 (1)
• オージェマッピングに必要な電子線の照射条件
• P/B 別測定法とPB同時測定法の違い
• 最新の静電半球アナライザを用いたナノ領域オージェマッピング (2)
• 最新の静電半球アナライザを用いたナノ領域オージェマッピング (1)
• オージェマイクロプローブ JAMP-9500F
• 領域指定によるオージェ像収集
• 広域オージェマッピング測定結果
• オージェ分析スケジューリングソフトウェア
• ピーク分離ソフト(Spectra Investigator)の紹介
• JAMP-7800シリーズ用試料処理装置の紹介
• UHV-SEMとEBSDの組み合わせ
• JAMP-9500Fによる極微小領域分析
• AES 中和銃（FMIED）
• AESによる化学状態分析 (1)
• AESによる化学状態分析 (2)
• CP加工断面のオージェ分析例　(1)

光電子分光装置 (XPS、ESCA)

• 中和銃と試料バイアス印加を用いたXPSにおける絶縁物分析法
• パスエネルギーの選択基準 - ピーク強度とエネルギー分解能のバランス -
• JPS-9010シリーズ　JPS-9200のオプションについて
• マイクロXPS JPS-9200の紹介
• 汎用型XPS JPS-9010シリーズの紹介
• ARXPS測定による膜厚解析
• JPS-9200応用データ紹介
• XPS分析位置設定ツールAP Navi の紹介
• XPS による環境分析例 WEEE/RoHS に対応する 6 価クロムの分析
• XPS による燃料電池の固体高分子電極の分析〜 クリーンエネルギー燃料電池の長寿命化への解析例 〜
• XPS用試料処理室とその応用

走査形プローブ顕微鏡 (SPM)

• 走査形プローブ顕微鏡 の測定モード
• 走査形プローブ顕微鏡 JSPM-5200 series データ集
• 走査形プローブ顕微鏡（SPM）による応用観察例

走査形トンネル顕微鏡の測定例

• STM と AFM の同時測定例
• 超高真空中での STM の測定例

原子間力顕微鏡の測定例

• 超高真空中でのコンタクト AFM の原理と測定例
• 超高真空中でのノンコンタクト AFM の測定例
• 大気中観察と真空中観察
• AFM による有機材料観察に適した測定方法と観察例
• 大気中における赤血球の観察例
• 有機結晶性薄膜の AC モード AFM 観察

その他の測定例

• 横振動 FFM による測定例
• 粘弾性像の測定例
• 磁気力顕微鏡（MFM）の観察例
• UHV-SPM による磁性薄膜の MFM 観察
• 走査ケルビンプローブ顕微鏡（SKPM）の測定例

SPM の応用例

• 温度可変 AFM の観察例
• ナノ・インデンターによる圧痕のその場観察例
• リソグラフィーモードによるプローブ操作と描画
• 原子追跡（Atom-tracking）STM

発表論文リスト

• 大気圧 SPM ユーザー発表論文リスト 1997〜2010

集束イオンビーム加工観察装置（FIB）

• アタッチメント：Cryo-FIB
• FIBによるTEM試料作製法3
• FIBによるTEM試料作製法2
• FIBによるTEM試料作製法1
• FIB による試料作製概要
• Cryo-FIBを用いた高分子エマルジョンの観察
• FIB の加工特性 2
• FIB の加工特性 1
• FIBの像コントラスト
• FIBの概要

電子顕微鏡周辺機器

• イオンスライサによる試料作製技術 5 -繊維状試料断面作製法-
• ブロードアルゴンイオンビームを用いた高分子材料の断面作製
• Preparation of High Quality Cross Section of Bone Tissue for SEM
  -Application of Cross-section Polisher to Biological Specimen-
• イオンスライサによる試料作製技術4 -小さいサイズの試料作製法-
• イオンスライサによる試料作製技術3 -粉体試料作製-
• イオンスライサによる試料作製技術2 -半導体デバイスの試料作製-
• イオンスライサによる試料作製技術 -バルク試料作製法-
• イオンスライサの概要
• TC-1/2 アクティブ除振装置 
• SemAfore 画像ファイリング装置 
• NL-OPC80N 型 オスミウムプラズマコータ 

アスベスト繊維の観察・分析関連

• アスベスト　繊維一本でもわかります!! ( JEM-1230,JEM-2100,JEM-2100F )
• JSM シリーズがアスベスト繊維の観察・分析を支援します！( JSM-7401F,JSM-6480LA )
• アスベスト　繊維の観察・分析に便利です！( JXA-8500F、JXA-8100)

• 「アスベスト」についての製品情報