JEOL

技術情報 > 電子光学機器
技術情報
  お問い合わせ
 

画像処理技術の応用 マップデータ処理例

JXA-8100/8200シリーズの多彩な表現力

マップ分析測長機能

マップ分析測長機能

擬似カラーとグレースケール

擬似カラーとグレースケール

マップ分析機能を使い、鉱物のSiのX線像内の粒径を測長しました。

コンクリートのCaのX線像を擬似カラーとグレースケールとで表示しました。

鳥附図

鳥瞰図

スムージング

スムージング

鉱物のMgのX線像を信号強度を高さに置き換えて、メッシュで3Dに表現しました。

 

IC断面のX線像をスムージングしてS/N比を改善しました。

複合マップ

複合マップ

ラインプロファイル

ラインプロファイル

鉱物中のFe,Ca,AlをRGBIに色分けして合成し、
相分析を行いました。

マップ分析機能を使い、セラミクスのX線像のラインプロファイルを像と重ねて表示しました。

スムージング

三角図と相マップ

スムージング

等高線表示

鉱物中のMg,Fa,CaのX線像を三角図の相分布で表示し、
さらに相ごとに色分けしました。
※オプション

工具鋼のWのX線像を信号強度で等高線を描きました。

このページの一番上へ
Copyright(C)1996-2010 JEOL Ltd., All Rights Reserved.