技術情報：日本電子

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透過電子顕微鏡 (TEM)

透過電子顕微鏡周辺機器

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

光電子X線分光装置 (XPS、ESCA)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

電気的欠陥解析装置/
半導体故障解析装置

核磁気共鳴装置 (NMR)

質量分析計
(MALDI-TOFMS、
GC-MS、LC-MS)

成膜関連機器
(電子銃・プラズマ源・他)

(生化学) 自動分析装置

臨床検査情報処理システム

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡周辺機器

オージェマイクロプローブ (Auger)

走査形プローブ顕微鏡 (SPM)

蛍光X線分析装置
(卓上・ハンドヘルド)

欠陥レビュー走査電子顕微鏡装置/
マスク観察装置

電子スピン共鳴装置 (ESR)

電子ビーム描画装置
(可変・スポット)

材料生成機器
(電子ビーム溶解・ナノ粒子合成)

検体搬送システム

アミノ酸分析機

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アスベスト繊維の観察・分析関連

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