透過電子顕微鏡 基本用語集

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  1. 超高圧電子顕微鏡

    UHV-EMultra-high voltage electron microscope

    [目次:理論]

    1000kV以上の高加速電圧の電子顕微鏡。1000kVの電子は波長が0.00087nmにまで短くなる。波長が短いことを利用した高分解能化が図られ0.1nm程度の分解能が得られている。その結果、炭素などの軽元素が明瞭に見られている。ただ、最近の高分解能化は球面収差補正装置を搭載した300kV電顕によって行われている。超高圧電子顕微鏡の特徴は、試料に対する透過能が高いので厚い試料の観察ができること、電子線照射による損傷の研究ができること、試料室が大きいので試料環境を制御する研究が容易であることなどである。

    UHV-EM : ultra-high voltage electron microscope ⇒
    1000kV以上の高加速電圧の電子顕微鏡。
    1000kVの電子は波長が0.00087nmにまで短くなる。波長が短いことを利用した高分解能化が図られ0.1nm程度の分解能が得られている。超高圧電子顕微鏡のその他の特徴として、試料に対する透過能が高いので厚い試料の観察ができること、電子線照射による損傷の研究ができること、試料室が大きいので試料環境を制御する研究が容易であることなどが挙げられる。

    "Ultra-high voltage electron microscope (UHV-EM)" is an electron microscope which accelerates electrons with a high voltage of 1000 kV or higher. The wavelength of an electron at 1000 kV is shortened down to 0.00087 nm. Utilizing the short wavelength, a resolution of about 0.1 nm has been obtained, and light elements such as carbons have been clearly observed. However, recent high resolution imaging has been achieved by 300 kV microscopes equipped with a spherical aberration corrector. The advantage of UHV-EM is the capability of observing thick specimens using its high transmission power, of investigating radiation damage of specimens using the high energy electron beam and of investigating chemical reaction at controlled conditions utilizing an enough space of a specimen chamber.

    超高圧電子顕微鏡:UHV-EM
    The ultra-high voltage electron microscope (UHV-EM) is an electron microscope which accelerates incident electrons with a high voltage of 1000 kV or higher. The wavelength of an electron at 1000 kV is shortened down to 0.00087 nm. Utilizing the short wavelength, a spatial resolution of the microscope image with about 0.1 nm has been attained. The other advantages of UHV-EM include observation of thick specimens using its high transmission power, investigation of radiation damage of specimens using its high-energy electron beam, and study of chemical reactions under controlled environments by utilizing a large space of the specimen chamber.
     

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