2017 第10回TEMユーザーズミーティング
昨年の第9回TEMユーザーズミーティングでは多くのユーザーの皆様にご出席を賜り、誠に有り難く深く感謝申し上げます。
ユーザーの皆様とのさらなる情報交換の場、新技術情報ご提供、実践的技術情報ご提供およびコミュニケーションを目的としまして、今年も第10回TEMユーザーズミーティングを開催することになりました。会場では、ポスターや装置の展示、情報交換の場として懇親会も予定しておりますので、有意義にご活用いただければ幸いに存じます。
時節柄ご多忙かとは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。
主催：東京大学・ 微細構造解析プラットフォーム
東京大学・日本電子産学連携室
東京大学・日本電子産学連携室
開催日/会場
- 日程:
2017年12月8日 (金) 10:00～18:00（受付 9:30～) - 会場:
東京大学 浅野キャンパス 工学部 武田先端知ビル5階 武田ホール
〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16
TEL 03-3812-8524 (東京大学・日本電子産学連携室)
地図 - アクセス
- 東京メトロ(地下鉄) 千代田線 根津駅下車1番出口 徒歩7分
- 東京メトロ(地下鉄) 南北線 東大前駅下車1番出口 徒歩10分
- JR御茶ノ水駅または上野駅より 都バス 東大構内行き 東大構内(終点)バス停下車 徒歩8分
- JR御茶ノ水駅より 都バス 駒込駅、王子駅または荒川土手行き 東大農学部前バス停下車 徒歩10分
お申し込み
- 参加費:
無料 - 申込締切:
2017年11月30日 (木) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。 - お申し込み方法:
※お申し込みを締め切りました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
| 時間 | 演題 発表者 |
|---|---|
| 9:30～10:00 | 受付 |
| 10:00～10:10 | 開会挨拶 |
| 10:10～10:30 | 高感度カメラと新機能を搭載したJEM-1400Flashの紹介 日本電子株式会社 EM事業ユニット 濱元 千絵子 |
| 10:30～10:50 | 最新の自動収差補正システムを搭載した電子顕微鏡 NEOARMの紹介 日本電子株式会社 EM事業ユニット 橋口 裕樹 |
| 10:50～11:10 | その場観察電子顕微鏡の新しい展望 日本電子株式会社 EM事業ユニット 福永 啓一 |
| 11:10～11:30 | 最新FIB-SEM マルチビームシステム JIB-4700F の紹介 日本電子株式会社 IB事業ユニット 門井 美純 |
| 11:30～13:10 | 昼食・装置/ ポスター展示セッション |
| 13:10～14:00 | 原子分解能STEMの進展と材料科学への応用 東京大学大学院 工学系研究科 幾原 雄一 様 |
| 14:00～14:10 | 休憩 |
| 14:10～14:40 | 分析電子顕微鏡とプリセッション電子回析を用いた材料解析 株式会社東レリサーチセンター 久留島 康輔 様 |
| 14:40～15:00 | 高速ピクセル型STEM検出器の開発とその応用 日本電子株式会社 EM事業ユニット 佐川 隆亮 |
| 15:00～15:30 | 休憩・装置/ ポスター展示セッション |
| 15:30～16:10 | 強度輸送方程式による電子波位相の定量計測とその応用 国立研究開発法人 物質・材料研究機構 三留 正則 様 |
| 16:10～16:50 | ソフトマテリアル電子顕微鏡観察におけるコントラスト増強と3次元その場観察へ向けての取り組み 東北大学 多元物質科学研究所 陣内 浩司 様 |
| 16:50～17:00 | 閉会挨拶 |
| 17:00～18:00 | 懇親会 |
お問い合わせ
日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
内野(うちの) ・ 廣川(ひろかわ)
E-Mail：jeolum@jeol.co.jp
TEL:03-6262-3560・FAX:03-6262-3577