2017 第10回TEMユーザーズミーティング

昨年の第9回TEMユーザーズミーティングでは多くのユーザーの皆様にご出席を賜り、誠に有り難く深く感謝申し上げます。
ユーザーの皆様とのさらなる情報交換の場、新技術情報ご提供、実践的技術情報ご提供およびコミュニケーションを目的としまして、今年も第10回TEMユーザーズミーティングを開催することになりました。会場では、ポスターや装置の展示、情報交換の場として懇親会も予定しておりますので、有意義にご活用いただければ幸いに存じます。
時節柄ご多忙かとは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。

主催:東京大学・ 微細構造解析プラットフォーム
東京大学・日本電子産学連携室

開催日/会場

  • 日程:
    2017年12月8日 (金) 10:00~18:00(受付 9:30~)
  • 会場:
    東京大学 浅野キャンパス 工学部 武田先端知ビル5階 武田ホール
    〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16
    TEL 03-3812-8524 (東京大学・日本電子産学連携室)
    地図
  • アクセス
    • 東京メトロ(地下鉄) 千代田線 根津駅下車1番出口 徒歩7分
    • 東京メトロ(地下鉄) 南北線 東大前駅下車1番出口 徒歩10分
    • JR御茶ノ水駅または上野駅より 都バス 東大構内行き 東大構内(終点)バス停下車 徒歩8分
    • JR御茶ノ水駅より 都バス 駒込駅、王子駅または荒川土手行き 東大農学部前バス停下車 徒歩10分

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 申込締切:
    2017年11月30日 (木) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。
  • お申し込み方法:
    ※お申し込みを締め切りました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

時間 演題
発表者
9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:30 高感度カメラと新機能を搭載したJEM-1400Flashの紹介
日本電子株式会社 EM事業ユニット 濱元 千絵子
10:30~10:50 最新の自動収差補正システムを搭載した電子顕微鏡 NEOARMの紹介
日本電子株式会社 EM事業ユニット 橋口 裕樹
10:50~11:10 その場観察電子顕微鏡の新しい展望
日本電子株式会社 EM事業ユニット 福永 啓一
11:10~11:30 最新FIB-SEM マルチビームシステム JIB-4700F の紹介
日本電子株式会社 IB事業ユニット 門井 美純
11:30~13:10 昼食・装置/ ポスター展示セッション
13:10~14:00 原子分解能STEMの進展と材料科学への応用
東京大学大学院 工学系研究科 幾原 雄一 様
14:00~14:10 休憩
14:10~14:40 分析電子顕微鏡とプリセッション電子回析を用いた材料解析
株式会社東レリサーチセンター 久留島 康輔 様
14:40~15:00 高速ピクセル型STEM検出器の開発とその応用
日本電子株式会社 EM事業ユニット 佐川 隆亮
15:00~15:30 休憩・装置/ ポスター展示セッション
15:30~16:10 強度輸送方程式による電子波位相の定量計測とその応用
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 三留 正則 様
16:10~16:50 ソフトマテリアル電子顕微鏡観察におけるコントラスト増強と3次元その場観察へ向けての取り組み
東北大学   多元物質科学研究所 陣内 浩司 様
16:50~17:00 閉会挨拶
17:00~18:00 懇親会
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
内野(うちの) ・ 廣川(ひろかわ)
E-Mail:jeolum@jeol.co.jp
TEL:03-6262-3560・FAX:03-6262-3577