RoHSスクリーニング：蛍光X線分析装置JSXシリーズ

重元素にも感度が高いSi(Li)半導体検出器と、RoHS規制成分の検出に最適なフィルターを採用し、微量な有害元素を高感度に検出できます。試料の大きさや厚さだけでなく、共存元素の種類や濃度まで把握し、その影響を補正します。ボタン方式にまとめられ、誰でも簡単に操作できます。

重元素にも感度が高いSi(Li)半導体検出器と、RoHS規制成分の検出に最適なフィルタを採用し、微量元素を高感度に検出できます。

　　　　　　　Brを含まないABS樹脂　　　　　　　　　　　　　Brを5%含むABS樹脂

共存元素補正には、試料の大きさや厚さだけでなく、共存元素の種類や濃度まで把握し、その影響を補正するJEOL独自の機能があります。

この分析例では、樹脂中に多量に存在するBrの吸収による影響でCdのX線強度が低下しています。
共存元素補正により、結果は通常の検量線の値より大きくなる方向に補正され、ICP値に近づきました。

Cd：93ppm （ICP）
　　 107ppm σ4.9ppm (JEOL　RoHSソフト)
　　 56ppm σ5.1ppm（通常検量線）

プラスチック及び金属RoHS物質のスクリーニングがボタン方式にまとめられ、簡単に操作できます。モニタリング測定で主成分を定量し、フィルタを自動交換しながら微量なRoHS元素を測定します。

パソコンツールを駆使することなく自動的に報告書が作成できます。目的に応じてレイアウトを自由に作成できます。一般蛍光X線分析の結果にも対応可能です。結果はデータベース保存されるので、試料名や測定日時などによる管理にも便利です。

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