アプリケーション検索結果：キーワード
で
35件ヒットしました
-
岩石試料の総合非破壊分析ワークフロー ｰ元素分析から薄膜試料作製，TEM観察までｰ
EM2022-03
-
FIB-SEMによる日本刀の非金属介在物の三次元元素マッピング
IB2022-01
-
Solid-State Battery Note
Solid-State Battery Note
-
4D-STEMとSTEM-EELSを用いたFinFETのplan-view観察
EM2022-01
-
CryoNote
CryoNote
-
鉛フリーはんだと銅の接合面の三次元元素マッピング
IB2021-03
-
ボンディングワイヤーの断面試料作製
IB2021-02
-
FIB-SEMによるFin FETデバイスのTEM試料作製
IB2021-01
-
SIM像によるIRカットフィルターの三次元欠陥解析
IB2020-06
-
CPとFIBによる断面試料作製
IB2020-05
-
FIBによる断面試料作製とSIM像のコントラスト
IB2020-04
-
試料作製をサポートするソフトウェア機能
IB2020-03
-
あらゆる情報を得るための信号検出システム
IB2020-02
-
全固体電池の大気非曝露環境TEM試料作製
IB2020-01
-
TEMトモグラフィーのためのピラー試料作製
IB2019-12