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15件ヒットしました
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燃料電池カーボン担体表面の観察・解祈
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PLD法で作製した積層磁石膜の微細構造解析
Pr-Fe-B/Fe-Co系磁性材料の透過電子顕微鏡による観察
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セラミックス積層膜の原子レベル解析
高感度EDS検出器搭載JEM-ARM200Fを用いて
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燃料電池触媒ナノ粒子の観察・解析
JEM-ARM200F を用いたサンプル情報の定量化
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原子分解能のエネルギー分散型X線分光法の準結晶の構造研究への応用
日本電子news Vol.47 No.5
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GRAND ARMにおける超高感度EDS分析システムの開発
日本電子news Vol.47 No.7
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超高分解能を実現した“原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F”の開発
日本電子 news Vol.46 No.5
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High Resolution Imaging and Spectroscopy Using CS-corrected TEM with Cold FEG JEM-ARM200F
JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012
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Study of Nanoparticles at UTSA: One Year of Using the First JEM-ARM200F Installed in USA
JEOLnews Volume 46, Number 1,2011
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超高分解能STEMによる複雑化合物の局所解析
日本電子News Vol.42, 2010
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Lithium Atom Microscopy at Sub-50pm Resolution by R005
JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010
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Atomic-Resolution Elemental Mapping by EELS and XEDS in Aberration Corrected STEM
JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010
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Ultrahigh-Resolution STEM Analysis of Complex Compounds
JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010
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球面収差補正 TEM (200kV) による半導体デバイス評価
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収差補正STEMにおける分析能力の向上
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