アプリケーション検索結果：キーワード

燃料電池カーボン担体表面の観察・解祈

PLD法で作製した積層磁石膜の微細構造解析

Pr-Fe-B/Fe-Co系磁性材料の透過電子顕微鏡による観察

セラミックス積層膜の原子レベル解析

高感度EDS検出器搭載JEM-ARM200Fを用いて

燃料電池触媒ナノ粒子の観察・解析

JEM-ARM200F を用いたサンプル情報の定量化

原子分解能のエネルギー分散型X線分光法の準結晶の構造研究への応用

日本電子news Vol.47 No.5

GRAND ARMにおける超高感度EDS分析システムの開発

日本電子news Vol.47 No.7

超高分解能を実現した“原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F”の開発

日本電子　news Vol.46 No.5

High Resolution Imaging and Spectroscopy Using CS-corrected TEM with Cold FEG JEM-ARM200F

JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012

Study of Nanoparticles at UTSA: One Year of Using the First JEM-ARM200F Installed in USA

JEOLnews Volume 46, Number 1,2011

超高分解能STEMによる複雑化合物の局所解析

日本電子News Vol.42, 2010

Lithium Atom Microscopy at Sub-50pm Resolution by R005

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Atomic-Resolution Elemental Mapping by EELS and XEDS in Aberration Corrected STEM

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Ultrahigh-Resolution STEM Analysis of Complex Compounds

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

球面収差補正 TEM (200kV) による半導体デバイス評価

収差補正STEMにおける分析能力の向上