CLEMとは

CLEMとは、Correlative Light and Electron Microscopy の略で、「光電子相関顕微鏡法」と呼ばれています。光学顕微鏡(LM)と、透過電子顕微鏡(TEM)または走査電子顕微鏡(SEM)で同じ試料を観察し、それぞれから得られる情報を連携させることで、双方のメリットを活かした効果的な観察や分析を行う方法です。

CLEMソリューションセンターの目的・概要

当社と株式会社ニコンは、CLEMに関するお客様へのデモンストレーションや技術情報の発信・収集を目的に、2017年9月に共同でCLEMソリューションセンターを開設しました。

住所 東京都昭島市武蔵野3-1-2
日本電子株式会社開発館内
主な設備品目 光学顕微鏡(LM)
(共焦点レーザー顕微鏡システム、工業用顕微鏡、実体顕微鏡)
電子顕微鏡(TEM, SEM, EPMA)
(透過電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザー)
各種試料作製機器
デモンストレーション 完全予約制
お問い合わせ TEL: 03-6262-3567(SI営業本部 SI販促室)

CLEMソリューションご紹介

CLEMを実現するには試料や目的に応じ、最適な処理手順(Workflow)を構築することも重要となります。当社とニコンは「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」で、様々な試料の観察や分析を通じ、お客様の課題解決を図ってきました。その中から代表的なWorkflowをご紹介いたします。詳細ボタンをクリックすると、各項目の詳細な説明が表示されます。

JEOLが提供するCLEM Workflow & システム

CLEM 名称 Workflow 特長 アプリケーション
Stage Linkage CLEM miXcroscopy™
miXcroscopy(TM)
 詳細1 
  • LMとSEMの試料ホルダを共通化
  • ステージ情報を専用のソフトウェアで管理
  • 複数の観察対象の位置合わせが可能
  • ステージ情報共有によりLMとSEMで見え方が異なっても観察位置の再現が容易
  • LM観察後にSEM観察、分析をルーチンで行う作業等
Cleanliness CLEM
(C-Linkage)
C-Linkage
 詳細2 
  • ISO16232に準拠した清浄度検査システム
  • フィルター上に捕集されたコンタミを
    LMにより素早く検出し、LMのステージ情報が連動されたSEMで
    効率よく粒子解析
  • 清浄度検査のルーチンワークに最適
  • 作業者の熟練度を問わない自動解析
  • 自動車等の清浄度検査
Image Overlay CLEM 光学顕微鏡像連動ソフトウェア
Picture Overlay
 詳細3 
  • 光学顕微鏡(LM)の画像を
    走査電子顕微鏡(SEM)画面上に半透明でオーバーレイ表示して位置合わせ
  • 光学顕微鏡像連動ソフトウェアをSEMにインストールするだけで準備が容易
  • LMの種類を問わず、様々なLM像を容易にSEM像と相関させることが可能
  • LMで見つけた変色等がSEMで分かりにくい場合の位置合わせ

金メッキ電極上の変色分析


水道水フィルターの異物分析


ネジの赤さびの位置特定

Marking CLEM Marking CLEM
アスベストCLEM法
CLEM
 詳細4 
  • LMでマーカーを押すだけの簡単CLEM
  • 安価で操作が容易
  • 対象が少なく、LMで観察後にSEM観察、分析をしたい時
  • スタンプ可能な試料の異物分析、アスベスト等

光学顕微鏡で観察した繊維のSEMEDSによる確認(アスベストCLEM法)

CLEM for Life Science polish CLEM
milling CLEM
miXcroscopy(TM)
 詳細5 
  • 研磨等により表面に露出させ、LM像と同一視野をSEMで観察する手法
  • LMでLive Cellを観察後、SEM像で細胞内部構造観察が可能
  • 簡便に広範囲観察が可能
  • 専用リンケージホルダ(miXcroscopy™)を使用すると、位置合わせも容易
  • 細胞内構造観察
  • 広視野観察
  • 多点観察

HeLa細胞のエンドソームの観察

on chip CLEM
on chip CLEM
 詳細6 
  • LMとTEMの両方で、同一試料台(SiN window chip)に載せた超薄切片試料を観察する手法
  • TEMによる高分解能観察をするための高精度な重ね合わせが可能
  • 材料分野にも使用可能
  • 超薄切片作製後に蛍光や特殊な散乱光(金ナノ粒子等)
    が観察できる試料
  • 位相差観察等ができる試料
  • 生物試料以外にも自家蛍光のあるトナーの粒子や、
    結晶性のポリマー等にも応用可能

HeLa細胞中のTOM-20の局在観察


ゾウリムシに取り込まれた金粒子


トナー中の蛍光を発する微粒子の特定

LLP-CLEM
LLP-CLEM
 詳細7 
  • 超広域モンタージュシステムLimitless Panorama (LLP)を用いたCLEM
  • LM像とTEMの試料座標を一致させることが可能
  • TEMによるモンタージュ撮影により広い範囲を高解像度で観察
  • 広範囲観察
  • 少量の変異細胞などの探索

CLEMアプリケーションご紹介

CLEMを利用した様々なアプリケーション例を紹介します。
画像をクリックするとアプリケーションページへ遷移します。

産業・材料分野への応用

バイオサイエンス分野への応用

CLEM Webセミナーのご案内

JEOL-Nikon CLEMソリューションセンターWebページリニューアルに伴い、CLEM Webセミナーにて、各CLEMのご紹介をいたします。
リンクより詳細内容をご覧いただくことができます。是非、お申し込みください。

関連リンク