JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター
走査電子顕微鏡を用いたアスベスト分析 (A-SEM法/アスベストCLEM法) Webデモのお申込み

日本電子はオンライン上での装置デモンストレーションや受託分析を行っております。
詳細は下記よりお問い合わせください。

  • 内容に応じて、担当部門より回答させていただきます。
  • アンケートやお問合せの内容によっては、回答できかねる場合がございますので、ご了承ください。
  • 当社営業時間外のお問合せにつきましては、翌営業日以降の回答となります。
  • 個人情報の取り扱いにつきまして
    このページでご入力いただいた情報は、SSLで保護され送信されます。お客様からいただきました個人情報は、厳重に管理致します。
    プライバシーポリシー

フォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。

恐れ入りますが、しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合は、yyamasak[at]@jeol.co.jp、kokobaya[at]@jeol.co.jp までお問い合わせください。