Marking CLEM

Marking CLEM

特長 STRONG POINT

光学顕微鏡観察で検出した異物に、マーカーを押すだけで簡単にCLEM観察を行えます。異物の数が少なく、他の分析を行う必要がないときに便利な手法です。

Marking CLEM Workflow

光学顕微鏡 (LM)

光学顕微鏡(LM)
光学顕微鏡でSEM分析したい異物を撮影
光学顕微鏡(LM)
オブジェクトマーカーでマーキング
光学顕微鏡(LM)
5x対物レンズを使用しマーク全体を撮影

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)
マーキングした試料をSEMに挿入
走査電子顕微鏡 (SEM)
SEM操作画面上の光学像を利用してオブジェクトマーカーの位置に視野移動
走査電子顕微鏡 (SEM)
対象異物にフォーカス
走査電子顕微鏡 (SEM)
対象異物を拡大
走査電子顕微鏡 (SEM)
EDS元素分析

• 関連アプリケーション

アスベストCLEM法

特長 STRONG POINT

光学顕微鏡で観察、計数し見つけた繊維状物質をSEMで観察、分析するための手法です。公定法に則って透明化したフィルターにカバーガラスではなくカーボンコーティングを施すだけのひと工夫と、マーカーにより簡単にCLEM観察を行えます。

アスベストCLEM法 Workflow

試料作製

アスベストCLEM法 Workflow

光学顕微鏡 (LM)

光学顕微鏡(LM)
ノーカバー位相差観察で計数後、SEM分析対象繊維を視野中央に移動して撮影
光学顕微鏡(LM)
オブジェクトマーカーでマーキング
光学顕微鏡(LM)
4x対物レンズを使用しマーキング全体を撮影

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)
マーキングした試料をSEMに挿入
走査電子顕微鏡 (SEM)
SEM操作画面上の光学像でオブジェクトマーカーの位置に視野移動
走査電子顕微鏡 (SEM)
対象アスベストにフォーカス
走査電子顕微鏡 (SEM)

• アプリケーション