定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Revealing the Atomic Structure of Two Dimensional and Three Dimensional Defects by Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

    Williams Lefebvre, Alfiia Akhatova, Lorenzo Mancini, Auriane Etienne, Bertrand Radiguet, Lorenzo Riguti, Xavier Sauvage, Celia Castro, Simona Moldovan, Philippe Pareige

  • Quantitative STEM-EELS Characterizations of Oxide Superlattices and Atomic-Scale Electron Spectroscopy at 100 K at National Taiwan University

    Pei-Wei Lee, Ming-Hao Lee, Shih-Chi Lee, Chin-Ping Chang, Yi-Chen Lai, Guang-Yu Guo, Ying-Hao Chu, Wei-Li Lee, Cheng Hsuan Chen, and Ming-Wen Chu

  • High Spatial Resolution Scanning Electron Microscope: Evaluation and Structural Analysis of Nanostructured Materials

    Osamu Terasaki, Shunsuke Asahina, Yuusuke Sakuda, Hideyuki Takahashi, Kenichi Tsutsumi, Masato Kudo, Robert W. Corkery, Yanhang Ma

  • A Top-Down Drawing of the World’s Smallest National Flag by JBX-6300FS Electron Beam Lithography System

    Nathan Nelson-Fitzpatrick

  • High Temporal Resolution Analysis of Materials Nanoprocess by Materials and Bio-Science Ultra-High Voltage Electron Microscope at Osaka University

    Hidehiro Yasuda

  • A Quantitative Analytical Method "Effective Magnetic Moment Method" Based on Both Curie-Weiss Law and ESR Fundamental Equation

    Nobuhiro Matsumoto

  • Introduction of a Next-Generation 200 kV Cryo TEM

    Naoki Hosogi

  • Development of Pixelated STEM Detector "4DCanvas"

    Ryusuke Sagawa

  • Development of a New Field Emission Electron Probe Microanalyzer JXA-8530FPlus

    Satoshi Notoya

  • JMS-MT3010HRGA INFITOF, a High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometer (TOF-MS) for Gas Monitoring Analysis

    Yukinori Yahata

  • The Development of the ROYAL HFX Probe

    A. Zens. T, T. Miyamoto, R. Crouch, T. Bergeron, M. Frey, A. Nomura, Y. Horino, T. Nishida

  • Latest Technologies of Electron-Beam Vacuum Deposition Used for Film Formation

    Masanori Kamioka, Akira Taniguchi, Toru Takashima

  • New-Generation Analyzer BioMajesty™ Zero Series, JCA-ZS050, and Its Contribution to Clinical Analysis

    Kazushige Kojima

Introduction of New Products

  • Atomic Resolution Analytical Electron Microscope NEOARM JEM-ARM200F

Applications

  • クライオ電子顕微鏡法の技術開発と生命科学への貢献

    難波 啓一、 加藤 貴之
    大阪大学 大学院 生命機能研究科

  • モノクロメータ搭載STEM-EELSによる電子状態解析

    倉田 博基
    京都大学 化学研究所 附属先端ビームナノ科学センター

  • 軟X線発光分光法(SXES)を用いた化学結合状態分析

    寺内 正己、 佐藤 庸平
    東北大学多元物質科学研究所 先端計測開発センター

  • 高分子材料の解析におけるESRの活用

    仲山 和海
    一般財団法人化学物質評価研究機構 東京事業所 高分子技術部

  • 固体NMR・X線回折・電子回折の複合アプローチによる低分子有機物の構造解析法

    西山 裕介1, 2
    1株式会社JEOL RESONANCE 2理化学研究所CLST-JEOL連携センター

  • 電子線トモグラフィーによる半導体材料の解析

    青山 佳敬1、大西 市朗1、遠藤 徳明1、奥西 栄治1、佐々木 健夫2、岩澤 頼信3、近藤 行人1
    1日本電子株式会社 EM事業ユニット 2JEOL(U.K.) LTD. 3日本電子株式会社 周辺機器事業ユニット

  • 電子顕微鏡を用いた生物試料の三次元観察法の比較

    春田 知洋
    日本電子株式会社 アプリケーション統括室

  • 電子イオン化(EI)と光イオン化(PI)を併用したGC×GC-HRTOFMSによる石油試料中のバイオマーカーの分析

    生方 正章、上田 祥久
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

  • 電子ビーム描画装置JBX-8100FSの開発

    會田 征德
    日本電子株式会社 SE事業ユニット

製品紹介

  • 電界放出型クライオ電子顕微鏡 JEM-Z200FSC/JEM-Z300FSC CRYO ARM™

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