定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Fast Pixelated Detectors: A New Era for STEM

    Peter D Nellist and Gerardo T Martinez
    Department of Materials, University of Oxford

  • Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy of La2CuO4-based Superconducting Interfaces at the Stuttgart Center for Electron Microscopy

    Y. Eren Suyolcu, Yi Wang, Federico Baiutti, Wilfried Sigle, Georg Cristiani, Giuliano Gregori, Gennady Logvenov, Joachim Maier, Peter A. van Aken
    Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Solid State Research

  • Technical Development of Electron Cryomicroscopy and Contributions to Life Sciences

    Keiichi Namba and Takayuki Kato
    Graduate School of Frontier Biosciences, Osaka University

  • Electronic State Analysis by Monochromated STEM-EELS

    Hiroki Kurata
    Institute for Chemical Research, Kyoto University

  • Chemical State Analyses by Soft X-ray Emission Spectroscopy

    Masami Terauchi and Yohei Sato
    Center for Advanced Microscopy and Spectroscopy, Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

  • X-ray, Electron and NMR Crystallography to Structural Determination of Small Organic Molecules

    Yusuke Nishiyama1, 2
    1JEOL RESONANCE Inc. 2RIKEN CLST-JEOL Collaboration Center

  • Structural Analysis of Semiconductor Devices by Using STEM/EDS Tomography

    Yoshitaka Aoyama1, Ichiro Ohnishi1, Noriaki Endo1, Eiji Okunishi1, Takeo Sasaki2, Yorinobu Iwasawa3, Yukihito Kondo1
    1EM Business Unit, JEOL Ltd. 2JEOL (U.K.) LTD. 3EC Business Unit, JEOL Ltd.

  • Comparison of 3D Imaging Methods in Electron Microscopy for Biomaterials

    Tomohiro Haruta
    Application Management Department, JEOL Ltd.

  • Biomarker Analysis in Petroleum Samples Using GC×GC-HRTOFMS with an Ion Source Combining Electron Ionization (EI) and Photo Ionization (PI)

    Masaaki Ubukata and Yoshihisa Ueda
    MS Business Unit, JEOL Ltd.

  • Development of the JBX-8100FS Electron Beam Lithography System

    Yukinori Aida
    SE Business Unit, JEOL Ltd.

Applications

  • クライオ電子顕微鏡法の技術開発と生命科学への貢献

    難波 啓一、 加藤 貴之
    大阪大学 大学院 生命機能研究科

  • モノクロメータ搭載STEM-EELSによる電子状態解析

    倉田 博基
    京都大学 化学研究所 附属先端ビームナノ科学センター

  • 軟X線発光分光法(SXES)を用いた化学結合状態分析

    寺内 正己、 佐藤 庸平
    東北大学多元物質科学研究所 先端計測開発センター

  • 高分子材料の解析におけるESRの活用

    仲山 和海
    一般財団法人化学物質評価研究機構 東京事業所 高分子技術部

  • 固体NMR・X線回折・電子回折の複合アプローチによる低分子有機物の構造解析法

    西山 裕介1, 2
    1株式会社JEOL RESONANCE 2理化学研究所CLST-JEOL連携センター

  • 電子線トモグラフィーによる半導体材料の解析

    青山 佳敬1、大西 市朗1、遠藤 徳明1、奥西 栄治1、佐々木 健夫2、岩澤 頼信3、近藤 行人1
    1日本電子株式会社 EM事業ユニット 2JEOL(U.K.) LTD. 3日本電子株式会社 周辺機器事業ユニット

  • 電子顕微鏡を用いた生物試料の三次元観察法の比較

    春田 知洋
    日本電子株式会社 アプリケーション統括室

  • 電子イオン化(EI)と光イオン化(PI)を併用したGC×GC-HRTOFMSによる石油試料中のバイオマーカーの分析

    生方 正章、上田 祥久
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

  • 電子ビーム描画装置JBX-8100FSの開発

    會田 征德
    日本電子株式会社 SE事業ユニット

製品紹介

  • 電界放出型クライオ電子顕微鏡 JEM-Z200FSC/JEM-Z300FSC CRYO ARM™

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