定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Atomic-Resolution Imaging and Spectroscopy on Materials of Various Dimensions by Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

    Mengsha Li, Shoucong Ning, Changjian Li, Jiadong Dan, Xiaoxu Zhao, Chunhua Tang, Stephen J. Pennycook
    Department of Materials Science and Engineering, National University of Singapore

  • Probe Corrected STEM Structural Imaging and Chemical Analysis of Materials at Atomic Resolution

    E. J. Olivier, J. H. Neethling and J. H. O’Connell
    Centre for HRTEM, Nelson Mandela University

  • Analytical SEM and TEM: Applications in Product-related Material Development

    Jörg Kaspar
    Fraunhofer IWS Dresden, Germany

  • Practical Solutions in Electron Beam Lithography with the JBX-9500FS and the JBX-6300FS

    D. M. Tennant, A. Banerjee, C. Treichler and A. R. Bleier
    Cornell NanoScale Science and Technology Facility

  • Development of New Operando Measurement System by Combining Reaction-Science High-Voltage Electron Microscopy and Quadrupole Mass Spectrometry

    Shunsuke Muto1,2,4, Shigeo Arai2, Testuo Higuchi3, Shigemasa Ohta4, and Koji Orita5
    1Advanced Measurement Technology Center, Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University
    2High-Voltage Electron Microscopy Laboratory, Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University
    3JEOL Ltd. 4JEOL USA, Inc. 5Graduate School of Engineering, Nagoya University

  • Development of Low-Voltage TEM/STEM for Single Carbon Atom Analysis under the 3C Project

    Kazu Suenaga
    National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

  • High-Field DNP Using Closed-Cycle Helium MAS System

    Yoh Matsuki and Toshimichi Fujiwara
    Institute for Protein Research, Osaka University

  • Application of "operando -ESR" to Organic Electronics Materials

    Junto Tsurumi1, Shun Watanabe2
    1NIMS, 2 Department of Advanced Materials Science, Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)-University of Tokyo Advanced Operando-Measurement Technology Open Innovation Laboratory (OPERANDO-OIL), AIST and JST, PRESTO*

  • YOKOGUSHI (Multifaceted) Analysis of Biomimetic Materials by Using PyGC/MS and XPS
    ‒ Characterization of Biomimetic Lacquer ‒

    Noriyasu Niimura
    Application Management Department, JEOL Ltd.

  • Development of Cryo High-Resolution Transmission Electron Microscope CRYO ARM™ 300, Equipped with Cold Field Emission Gun for Structural Biology

    Sohei Motoki
    EM Business Unit, JEOL Ltd.

  • Observation and Analysis at Low Accelerating Voltage Using Ultra High Resolution FE-SEM JSM-7900F

    Hironobu Niimi, Yusuke Sakuda, Natsuko Asano, Shunsuke Asahina
    EP Business Unit, JEOL Ltd.

  • Development of an Integrated Analysis Method for the JMS-T200GC High Mass-Resolution GC-TOFMS by Electron Ionization and Soft Ionization Methods

    Masaaki Ubukata and Yoshihisa Ueda
    MS Business Unit, JEOL Ltd.

  • Development of a Gas Chromatograph Triple Quadrupole Mass Spectrometer JMS-TQ4000GC

    Kiyotaka Konuma
    MS Business Unit, JEOL Ltd.

Applications

  • 反応科学超高圧電子顕微鏡と四重極質量分析計による新しいオペランド測定システム開発

    武藤 俊介1,2,5、 荒井 重勇2、 樋口 哲夫3、 大田 繁正4、 折田 浩二5
    1名古屋大学 未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 2名古屋大学 未来材料・システム研究所 超高圧電子顕微鏡施設 3日本電子(株) 4JEOL USA, Inc. 5名古屋大学 大学院工学研究科 物質科学専攻

  • トリプルCプロジェクトによる低加速電子顕微鏡の開発とカーボン単原子の分析

    末永 和知
    国立研究開発法人 産業技術総合研究所

  • 循環型極低温ヘリウムMASを用いる高磁場DNP-NMR

    松木 陽、 藤原 敏道
    大阪大学蛋白質研究所

  • "オペランド ESR 法"で探る有機エレクトロニクス材料

    鶴見 淳人 物質・材料研究機構 (NIMS)
    渡邉 峻一郎 東京大学 大学院新領域創成科学研究科 産総研・東大 先端オペランド計測技術オープンイノベーションラボラトリ (OPERANDO-OIL) and JST さきがけ*

  • バイオミメティック材料のYOKOGUSHI(多面的)分析 ― PyGC/MS, XPSを用いたバイオミメティックラッカーのキャラクタリゼーション ―

    新村 典康
    日本電子株式会社 アプリケーション統括室

  • 高分解能生体構造解析のための電子顕微鏡 CRYO ARM™ 300の開発

    元木 創平
    日本電子株式会社 EP事業ユニット

  • 超高分解能FE-SEM JSM-7900Fによる低加速電圧観察と分析

    新美 大伸、作田 裕介、 淺野 奈津子、 朝比奈 俊輔
    日本電子株式会社 アプリケーション統括室

  • 電子イオン化法及びソフトイオン化法を搭載した高質量分解能GC-TOFMSによる測定結果の統合解析手法の開発

    生方 正章、上田 祥久
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

  • ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析装置 JMS-TQ4000GCの開発

    小沼 純貴
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

製品紹介

  • 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope™ JCM-7000

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