定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Progress in Photonic Crystal Lasers and Their Application to LiDAR
    Susumu Noda

    Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University

  • And Yet It Moves: Molecular Rotors and Motors Studied by Solid-State NMR Spectroscopy
    Martin Dračínský, Carina Santos Hurtado, Guillaume Bastien, Jiří Kaleta

    Institute of Organic Chemistry and Biochemistry, Czech Academy of Sciences

  • Dioxins Analysis with New GC-MS/MS System and Software "TQ-DioK"
    Imane Senoussaoui1, Masahiro Hashimoto1, Thomas Lehardy2, Anais Venisseau2, Philippe Marchand2

    1JEOL (EUROPE) SAS, France 2LABoratoire d'Etude des Residus et Contaminants dans les Aliments (LABERCA), Nantes,France

  • Characterization of Localized Physical Properties Using High Resolution EELS
    Ryosuke Senga, Kazu Suenaga

    National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Osaka University

  • In-Resin CLEM of Epon-Embedded Cells Using Fluorescent Proteins
    Isei Tanida, Junji Yamaguchi, Soichiro Kakuta, and Yasuo Uchiyama

    Juntendo University Graduate School of Medicine

  • Degradation Analysis for Polymer Materials by Spin-Trapping
    Wataru Sakai

    Faculy of Materials Science and Engineering, Kyoto Institute of Technology

  • High-Speed Electron Beam Modulation System Using Electrostatic Deflection and Laser Delivery System to the Specimen in Transmission Electron Microscopy
    Takeshi Kaneko1, Norihiro Okoshi1, Takeo Sasaki1, Kazuki Yagi1, Takeshi Sato1, Hiroki Hashiguchi1, Ichiro Ohnishi1, Yu Jimbo1, Hidetaka Sawada1, and Shinsuke Ogiwara1,2, Ruth Shewmon Bloom2, Bryan Reed2, Sang Tae Park2, Daniel Masiel2

    1JEOL Ltd. 2IDES: Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. 5653 Stoneridge Dr. #117 Pleasanton, CA 94588

  • The New Detection System of High-End FE-SEM JSM-IT800 Super Hybrid Lens <SHL>
    Tatsuro Nagoshi, Yuuki Yamaguchi

    EP Business Unit, JEOL Ltd.

  • Preparation of TEM Specimens Having Specific Crystal Orientations Using FIB-SEM and EBSD ~ Applications to Allende meteorite ~
    Misumi Kadoi1, Masateru Shibata1 and Ichiro Ohnish2

    1EP Business Unit, JEOL Ltd. 2EM Business Unit, JEOL Ltd.

  • Chemical Bonding State Analysis of Boron and Phosphorus Compounds by Soft X-ray Emission Spectroscopy and Electronic Structure Calculations
    Shogo Koshiya, Takanori Murano, Masaru Takakura and Hideyuki Takahashi

    SA Business Unit, JEOL Ltd.

  • Chemical State Analysis of Fe in the Matrix of the Allende Meteorite Using an FEG EPMA and SXES
    Takaomi D. Yokoyama

    SA Business Unit, JEOL Ltd.

  • MultiAnalyzer – Unknown Compounds Analysis System New Gas Chromatograph Time-of-Flight Mass Spectrometer JMS-T2000GC "AccuTOF™ GC-Alpha"
    Masaaki Ubukata

    MS Business Unit, JEOL Ltd.

  • Introduction of JEOL Products

Applications

  • フォトニック結晶レーザーの進展とLiDAR応用

    野田 進
    京都大学 工学研究科

  • 高分解能EELSを使った局所材料物性評価

    千賀 亮典、 末永 和知
    産業技術総合研究所、 大阪大学

  • 蛍光タンパク質を用いたエポン樹脂包埋生物試料の2色in-resin CLEM

    谷田 以誠、 山口 隼司、 角田 宗一郎、 内山 安男
    順天堂大学大学院 医学研究科

  • スピントラップによる高分子材料のための劣化反応解析

    坂井 亙
    京都工芸繊維大学 材料化学系

  • 透過電子顕微鏡における静電偏向技術を用いた高速電子線変調システムと試料へのレーザー導入システム

    金子 武司1、大越 方博1、佐々木 健夫1、八木 一樹1、佐藤 武志1、橋口 裕樹1、大西 市朗1、神保 雄1、沢田 英敬1、荻原 伸介1,2、Ruth Shewmon Bloom2、Bryan Reed2、Sang Tae Park2、Daniel Masiel2
    1 日本電子株式会社、2 IDES : Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. 5653 Stoneridge Dr. #117 Pleasanton, CA 94588

  • ハイエンドFE-SEM JSM-IT800 Super Hybrid Lens〈SHL〉の新検出システム

    名越 達郎、 山口 祐樹
    日本電子株式会社 EP事業ユニット

  • FIB-SEMとEBSDを用いた特定方位からのTEM試料作製 ~石質隕石への応用~

    門井 美純1、 柴田 昌照1、 大西 市朗2
    1 日本電子株式会社 EP事業ユニット、2 日本電子株式会社 EM事業ユニット

  • 軟X線分光法と理論計算によるホウ素化合物およびリン化合物の結合状態解析

    越谷 翔悟、 村野 孝訓、 髙倉 優、 髙橋 秀之
    日本電子株式会社 SA事業ユニット

  • 電子プローブマイクロアナライザーと軟X線分光器を用いたアエンデ隕石マトリックス鉱物の鉄状態分析

    横山 隆臣
    日本電子株式会社 SA事業ユニット

  • マルチイオン化-未知物質解析システム 新型ガスクロマトグラフ/高分解能飛行時間質量分析計
    JMS-T2000GC "AccuTOF™ GC-Alpha"

    生方 正章
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

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