定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Progress in Photonic Crystal Lasers and Their Application to LiDAR
    Susumu Noda

    Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University

  • And Yet It Moves: Molecular Rotors and Motors Studied by Solid-State NMR Spectroscopy
    Martin Dračínský, Carina Santos Hurtado, Guillaume Bastien, Jiří Kaleta

    Institute of Organic Chemistry and Biochemistry, Czech Academy of Sciences

  • Dioxins Analysis with New GC-MS/MS System and Software "TQ-DioK"
    Imane Senoussaoui1, Masahiro Hashimoto1, Thomas Lehardy2, Anais Venisseau2, Philippe Marchand2

    1JEOL (EUROPE) SAS, France 2LABoratoire d'Etude des Residus et Contaminants dans les Aliments (LABERCA), Nantes,France

  • Characterization of Localized Physical Properties Using High Resolution EELS
    Ryosuke Senga, Kazu Suenaga

    National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Osaka University

  • In-Resin CLEM of Epon-Embedded Cells Using Fluorescent Proteins
    Isei Tanida, Junji Yamaguchi, Soichiro Kakuta, and Yasuo Uchiyama

    Juntendo University Graduate School of Medicine

  • Degradation Analysis for Polymer Materials by Spin-Trapping
    Wataru Sakai

    Faculy of Materials Science and Engineering, Kyoto Institute of Technology

  • High-Speed Electron Beam Modulation System Using Electrostatic Deflection and Laser Delivery System to the Specimen in Transmission Electron Microscopy
    Takeshi Kaneko1, Norihiro Okoshi1, Takeo Sasaki1, Kazuki Yagi1, Takeshi Sato1, Hiroki Hashiguchi1, Ichiro Ohnishi1, Yu Jimbo1, Hidetaka Sawada1, and Shinsuke Ogiwara1,2, Ruth Shewmon Bloom2, Bryan Reed2, Sang Tae Park2, Daniel Masiel2

    1JEOL Ltd. 2IDES: Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. 5653 Stoneridge Dr. #117 Pleasanton, CA 94588

  • The New Detection System of High-End FE-SEM JSM-IT800 Super Hybrid Lens <SHL>
    Tatsuro Nagoshi, Yuuki Yamaguchi

    EP Business Unit, JEOL Ltd.

  • Preparation of TEM Specimens Having Specific Crystal Orientations Using FIB-SEM and EBSD ~ Applications to Allende meteorite ~
    Misumi Kadoi1, Masateru Shibata1 and Ichiro Ohnish2

    1EP Business Unit, JEOL Ltd. 2EM Business Unit, JEOL Ltd.

  • Chemical Bonding State Analysis of Boron and Phosphorus Compounds by Soft X-ray Emission Spectroscopy and Electronic Structure Calculations
    Shogo Koshiya, Takanori Murano, Masaru Takakura and Hideyuki Takahashi

    SA Business Unit, JEOL Ltd.

  • Chemical State Analysis of Fe in the Matrix of the Allende Meteorite Using an FEG EPMA and SXES
    Takaomi D. Yokoyama

    SA Business Unit, JEOL Ltd.

  • MultiAnalyzer – Unknown Compounds Analysis System New Gas Chromatograph Time-of-Flight Mass Spectrometer JMS-T2000GC "AccuTOF™ GC-Alpha"
    Masaaki Ubukata

    MS Business Unit, JEOL Ltd.

  • Introduction of JEOL Products

Applications

  • 構造生命科学のためのクライオ電子顕微鏡法の最近の進歩と将来展望

    難波 啓一1,2、牧野 文信1,3
    1 大阪大学大学院生命機能研究科 2 理研放射光科学研究センター 3 日本電子株式会社

  • 軟X線発光分光法によるリチウム化合物と液体リチウム用窒素吸着材の化学状態の分析

    向井 啓祐1,2、大村 涼1、八木 重郎1、笠田 竜太3
    1 京都大学エネルギー理工学研究所 2 京都フュージョニアリング株式会社 3 東北大学金属材料研究所

  • 収差補正STEMを用いた鉱物試料の微細組織観察と分析

    大西 市朗
    日本電子株式会社 EM事業ユニット

  • 半導体デバイス観察に優れた新型セミインレンズSEM JSM-IT800 <i>/<is>

    中村 元弘、中島 雄平
    日本電子株式会社 EP事業ユニット

  • JIB-4700FによるTEM試料自動作製

    石原 嘉隆、三平 智宏
    日本電子株式会社 EP事業ユニット

  • エネルギー分解能可変バンドパスフィルターを用いた二次電子および反射電子のスペクトルイメージング分析

    内田 達也1、伊木田 木の実1、田中 章泰1、横内 和城1、池尾 信行1、堤 建一1、田口 昇2
    1 日本電子株式会社 2 国立研究開発法人 産業技術総合研究所

  • 電子ビーム金属3Dプリンター JAM-5200EBMの開発

    宮北 歩
    日本電子株式会社 3D積層造形プロジェクト

  • ガスクロマトグラフ四重極質量分析計 JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta

    阿部 吉雄、生方 正章
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

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