定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース

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最新号

Applications

  • Revealing the Atomic Structure of Two Dimensional and Three Dimensional Defects by Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

    Williams Lefebvre, Alfiia Akhatova, Lorenzo Mancini, Auriane Etienne, Bertrand Radiguet, Lorenzo Riguti, Xavier Sauvage, Celia Castro, Simona Moldovan, Philippe Pareige

  • Quantitative STEM-EELS Characterizations of Oxide Superlattices and Atomic-Scale Electron Spectroscopy at 100 K at National Taiwan University

    Pei-Wei Lee, Ming-Hao Lee, Shih-Chi Lee, Chin-Ping Chang, Yi-Chen Lai, Guang-Yu Guo, Ying-Hao Chu, Wei-Li Lee, Cheng Hsuan Chen, and Ming-Wen Chu

  • High Spatial Resolution Scanning Electron Microscope: Evaluation and Structural Analysis of Nanostructured Materials

    Osamu Terasaki, Shunsuke Asahina, Yuusuke Sakuda, Hideyuki Takahashi, Kenichi Tsutsumi, Masato Kudo, Robert W. Corkery, Yanhang Ma

  • A Top-Down Drawing of the World’s Smallest National Flag by JBX-6300FS Electron Beam Lithography System

    Nathan Nelson-Fitzpatrick

  • High Temporal Resolution Analysis of Materials Nanoprocess by Materials and Bio-Science Ultra-High Voltage Electron Microscope at Osaka University

    Hidehiro Yasuda

  • A Quantitative Analytical Method "Effective Magnetic Moment Method" Based on Both Curie-Weiss Law and ESR Fundamental Equation

    Nobuhiro Matsumoto

  • Introduction of a Next-Generation 200 kV Cryo TEM

    Naoki Hosogi

  • Development of Pixelated STEM Detector "4DCanvas"

    Ryusuke Sagawa

  • Development of a New Field Emission Electron Probe Microanalyzer JXA-8530FPlus

    Satoshi Notoya

  • JMS-MT3010HRGA INFITOF, a High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometer (TOF-MS) for Gas Monitoring Analysis

    Yukinori Yahata

  • The Development of the ROYAL HFX Probe

    A. Zens. T, T. Miyamoto, R. Crouch, T. Bergeron, M. Frey, A. Nomura, Y. Horino, T. Nishida

  • Latest Technologies of Electron-Beam Vacuum Deposition Used for Film Formation

    Masanori Kamioka, Akira Taniguchi, Toru Takashima

  • New-Generation Analyzer BioMajesty™ Zero Series, JCA-ZS050, and Its Contribution to Clinical Analysis

    Kazushige Kojima

Introduction of New Products

  • Atomic Resolution Analytical Electron Microscope NEOARM JEM-ARM200F

Applications

  • 高空間分解能走査形電子顕微鏡を用いたナノ構造材の評価・分析

    寺崎 治1、 朝比奈 俊輔2、 作田 祐介2、 高橋 秀之2、 堤 建一2、 工藤 政都3、 Robert W. Corkery4,5、Yanhang Ma1
    1上海科学技術大学、2日本電子(株)、3日本電子テクニクス(株)、4Department of Chemistry, KTH(Royal Intitute of Technology), Sweden、 5Applied Mathematics Department, Australian National University, Australia

  • 大阪大学「物質・生命科学超高圧電子顕微鏡」による材料極微プロセスの時空間解析

    保田 英洋
    大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター、大阪大学 大学院工学研究科 マテリアル生産科学専攻

  • キュリー・ワイスの法則とESR基本方程式に基づく定量分析法"有効磁気モーメント法"

    松本 信洋
    国立研究開発法人 産業技術総合研究所

  • 次世代200kVクライオTEMの紹介

    細木 直樹
    日本電子株式会社 EM事業ユニット

  • ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発

    佐川 隆亮
    日本電子株式会社 EM事業ユニット

  • EPMA新製品JXA-8530Plusの紹介

    能登谷 智史
    日本電子株式会社 SA事業ユニット

  • ガス分析用高分解能TOF-MS JMS-MT3010HRGA INFITOFの紹介

    八幡 行記
    日本電子株式会社 MS事業ユニット

  • 成膜加工に利用される電子ビーム蒸着の最新技術

    上岡 昌典、谷口 明、高島 徹
    日本電子株式会社 IE事業ユニット

製品紹介

  • 複合ビーム加工観察装置 JIB-4700F
  • ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7900F
  • 電子顕微鏡 JEM-1400Flash
  • 原子分解能分析電子顕微鏡 NEOARM JEM-ARM200F

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