2015/02/12

日本電子ブースおよびセミナーへのご来場、誠にありがとうございました。

主催: 一般社団法人日本分析機器工業会 / 一般社団法人 日本科学機器協会
公式サイト: http://www.jasis.jp/

開催日/会場

  • 日程:
    2015年9月2日(水) - 9月4日(金) 10:00~17:00
  • 会場:
    幕張メッセ国際展示場 (入場無料)
  • ブースNo.
    ブースNo. ホール5 5A-701
    JASIS展示ブース位置
  • 7月1日事前登録開始
    事前登録はこちらからお願致します。
  • アクセス(主催者サイト):
    http://www.jasis.jp/access/
    便利な無料シャトルバス等の情報が掲載されていますのでご利用ください。

出展情報

新製品のご紹介

JEM-2100Plus JSM-7200F JCM-6000Plus JPS-9030
透過電子顕微鏡
JEM-2100Plus
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-7200F
卓上走査電子顕微鏡
JCM-6000Plus
NeoScope™
光電子分光装置
JPS-9030
IB-19520CCP JMS-T100LP JMS-T200GC
冷却クロスセクションポリッシャ(CP)
IB-19520CCP
大気圧イオン化高分解能
飛行時間型質量分析計
JMS-T100LP
AccuTOF™ LC-plus 4G
高性能ガスクトマトグラフ
飛行時間型質量分析計
JMS-T200GC
AccuTOF™ GCx

出展製品

JSX-1000S JMS-Q1500GC JNM-ECZ400S SS-9400SXES
エネルギー分散形
蛍光X線分析装置
JSX-1000S
ガスクロマトグラフ
質量分析計
JMS-Q1500GC
核磁気共鳴装置
JNM-ECZ400S
軟X線分光器
SS-94000 SXES
JMS-S3000 JLC-500/V
マトリックス支援
レーザー脱離イオン化
飛行時間型質量分析計
JMS-S3000
アミノ酸分析装置
JLC-500/V2

ブース内セミナー・デモンストレーションのご案内

  • YOKOGUSHIセミナー
    【リチウムイオン電池】【食品分析】【陽極酸化皮膜】【分析・計測統合ソフト】の4つのカテゴリーについて実例を挙げて発表します。
  • 走査電子顕微鏡デモンストレーション
    新製品JSM-7200F・JCM-6000Plusを使い、試料を観察します。実際の操作性を体感いただけます。
  • 質量分析装置デモンストレーション
    JMS-Q1500GCと新製品JMS-T100LP AccuTOF™ LC-plus 4G(DARTイオン源付)2種類を使い、1日2回デモンストレーションを行います。豊富なアプリケーションデータと合わせて装置をご紹介します。

新技術説明会

A会場 アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>
N会場 ホテルニューオータニ幕張

9月2日(水)

時間 会場 発表テーマ
発表要旨
10:30~10:55 N-2 絶縁物の最新解析技術 ~FE-SEMによる観察から分析まで~
JSM-7800FPRIMEによる低真空法を用いた絶縁物解析のノウハウを紹介します。
11:10~11:35 A-1 切って見る。大電流で断面加工も楽々。FIB-SEM による加工、観察分析の応用例を紹介
最新FIB-SEM マルチビームシステム JIB-4610Fの紹介とその応用例 (三次元観察、分析を中心に) を紹介する。
12:15~13:05 N-6 知っておきたい質量分析の基礎!
質量分析法は非常に有用で且つ広範囲な応用分野を持つ分析法のひとつである。
今回、質量の定義からイオン化法の種類、そして測定法の種類など、質量分析を行う上で知っておきたい質量分析の基礎的な内容を解説する。
13:10~13:35 N-1 より早く正確に!! 高感度DualSDDによる自動元素分析 ~2Dから3Dまで~
3Dマップと複数領域2Dを高速に自動取得できる複数検出器を備えたEDSシステムを説明する。
13:50~14:15 A-3 基礎から学ぶ定量NMR
NMRによる定量分析は成分比や含量の評価に使われている。分析の基礎を解説する。
14:30~14:55 A-4 異臭・異物のトラブル解決!アプローチを徹底追及!
異臭・異物問題を理科学機器の特徴を織り交ぜ、問題解決のアプローチをご紹介いたします。
15:50~16:15 A-3 試料に合わせて温度調整!クロスセクションポリッシャの新機能とその応用
加工温度に敏感な試料に対して適温に冷却するイオンビーム加工を可能とした機能とその応用例を示す。

9月3日(木)

時間 会場 発表テーマ
発表要旨
10:30~10:55 A-2 アンビエント質量分析のパイオニアJEOL ~ DART10年の歩みと、その将来
JEOLが開発した世界最初のアンビエントイオン化法DARTの10年の歩みとその将来展望を発表します。
11:10~11:35 A-5 JSM-7800F/Gatan 3View®2XPでみる!SEMによる生物組織三次元観察の新境地
低加速・高分解能SEM“JSM-7800F”で観察した生物組織の三次元再構築の例を紹介します。
11:50~12:15 A-2 これでわかるアミノ酸分析の基礎! ~どなたでも正確・簡単にアミノ酸が測れます~
食品、医療分野で必須となっているアミノ酸分析について、前処理のポイントから、最近の分析例まで紹介する。
12:30~12:55 A-11 SEM-LaB6機ノウハウ!低加速の高空間分解能を最大限に活かす!
大好評ノウハウシリーズ第6弾!加速電圧を下げることで得られる高空間分解能の活用術を紹介します。
13:50~14:15 A-2 ハイエンド電子顕微鏡のための環境対策最前線 ~Part2.振動の対策~
近年の電子顕微鏡の性能向上はめざましく外乱の影響を無視できなくなった。今回は振動対策をお届けする。
13:50~14:15 N-1 これでできる!Element Eye(ED-XRF)による軽合金材料の微量分析テクニック
1次フィルタのテクニックで,微量成分の高感度分析が可能に。軽合金分析に新たな可能性をご紹介。
15:50~16:15 A-5 GC/HRTOFMSによる、1ランク上の材料分析
JEOLの第4世代GC/HRTOFMSの紹介と、この装置を用いた、より高いレベルでの材料分析事例を紹介する。

9月4日(金)

時間 会場 発表テーマ
発表要旨
10:30~10:55 A-6 SEM像観察からEDS分析まで~超簡単操作を実現する新SEM/EDSシステムの紹介
SEM像観察からEDSによる元素分析までを一貫した簡単操作により実現する、新しいSEM/EDSシステムを紹介します。
10:30~10:55 A-2 透過型電子顕微鏡における超広範囲パノラマ画像自動生成
透過型電子顕微鏡において制限の無いパノラマ画像撮影を実現した。その手法について発表する。
11:10~11:35 A-3 MALDI-TOFMSの質量精度向上の鍵は? ~低分子から高分子まで~
MALDI-TOFMSは高分子量化合物専用ではありません。SpiralTOFの特徴と精密質量測定の実例をご紹介します。
13:10~13:35 A-2 高速・高精度深さ方向分析XPSの決定版 新型XPS『JPS-9030』の紹介
操作性を刷新し、様々な試料を対象にした深さ方向、角度分解、全反射分析を容易に実現するXPS装置の紹介
13:50~14:15 N-1 光顕で観た領域をピンポイントでSEM観察~OM・SEMリンクシステムの紹介~
OM・SEMリンクシステムを用いて、光学顕微鏡で観察した領域をシームレスにSEMで観察
15:10~15:35 A-1 世界初!超高感度!固体プローブ。 クライオコイルMASのご紹介
世界初、超高感度の固体NMRプローブは、リチウム電池など、無機、非結晶系の解析を容易にします。
15:50~16:15 A-3 高空間分解能を備えた走査型電子顕微鏡の登場
高空間分解能、様々な画像の同時取得、分析の高速化を可能にした走査電子顕微鏡

COMOS-NANO活動報告セミナー

ナノ材料の先端計測技術の開発と国際標準化を目指して
COMS-NANO(ナノ計測ソリューションコンソーシアム)はナノ材料の計測・評価技術をオールジャパン体制で研究開発すべく産総研、島津 製作所、日本電子、リガク、堀場製作所、日立ハイテクノロジーズなど公的研究機関及び計測機器メーカー5社により2013年に設立されました。 これまで欧州を中心としたナノ材料利用への規制に対応すべく、ナノ材料のサイズと濃度分布の計測・評価手法と計測装置を開発して参り ました。本セミナーでは、COMS-NANOのこれまでの活動と成果をご報告させていただくと共に、ナノ材料の国際標準化の最新動向についても 詳しくご紹介させていただきます。皆様のご参加をお待ちしております。

  • 日程:
    9月2日(水) 13:00~16:20(受付開始 12:30~)
  • 開催場所:
    幕張メッセ国際会議場2階 コンベンションホールA
  • 定員:
    120名
  • 参加費:
    無料
  • プログラム(PDF 477KB)

英国王立化学会(RSC) 東京国際コンファレンス2015 「ライフイノベーションを支える分析技術」

JASIS 2015の一環として開催される [ 英国王立化学会(RSC)東京国際コンファレンス2015「ライフイノベーションを支える分析技術」]において、DARTの発明者である弊社米国法人JEOL USA, Inc. のDr. Robert “Chip” Codyが招待され、特別講演を行うこととなりました。講演は英語ですが、日本語同時通訳付です。
DARTの発明者の講演を、日本語同時通訳付で聴講できる貴重な機会ですので、ご興味のある方はお早めにお申し込みください。

走査顕微鏡 JSM-T20が2015年度「分析機器・科学機器遺産」に認定

弊社製品 走査顕微鏡 JSM-T20 が2015年度「分析機器・科学機器遺産」に認定されました。JASIS会場8ホールで稼働展示します。

JASIS2015 分析機器・科学機器遺産に認定されたJSM-T20