2016/05/25

『SEM観察/分析に役立つ! 前処理のテクニック ~基礎編~』と題しまして、基本的な前処理方法についてご紹介いたします。 現在、SEMは製品開発、品質管理、故障解析など様々な分野、部署で使われていますので、試料の種類、前処理方法、SEM観察手法も多種多様です。 特に前処理方法は、SEM観察/分析を良好に行う為に非常に重要ですので、前処理時に気をつけておきたい点や基本的な手法などをご説明させて頂きます。

本セミナーは、Web上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2016年6月13日(月) 16:00~16:30

使用製品

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200 名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e20b01e82f15ee6d73b950a39dcd8e8ce

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら(PDF 525KB)をご覧ください。
    初回参加時は、Cisco®社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社 グローバル営業推進本部
    担当: 小野
    TEL: 03-6262-3567