2017/06/08
この度、走査電子顕微鏡(SEM)で装着率の高い「エネルギー分散形X線分析装置(EDS)基礎講座」を開催することになりました。
つきましては、時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。
 

主催:日本電子株式会社

開催日/会場

  • 日程:
    2017年6月23日(金) 10:00~16:00 (受付開始9:45より)
  • 会場:
    日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
    〒532-0011
    大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
    TEL: 06-6305-0121
    印刷用地図 (PDF 170KB)
  • 交通アクセス:
    JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
    地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口(7番出口) 徒歩2分

お申し込み

  • 対象者:
    走査電子顕微鏡をご利用で弊社EDS(JEDシリーズ)をお使いのお客様
  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    10名 (先着順)
  • お申し込み方法:
    ※定員となりました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

09:45
受付
10:00
講義 EDSの原理と上手な使い方
  • EDSの原理
  • 特性X線と特性X線の広がり
  • 定性分析、定量分析
  • 点分析、線分析、マッピング(面分析)
  • 加速電圧と特性X線
  • スポットサイズと特性X線
  • EDS測定における留意点(試料前処理、測定条件、等)
  • JEDを使った便利な測定法
11:50
休憩
13:00
実習 SEM、EDSの実機を使った実習
 ※実習装置 (予定)
JSM-IT100(LA) InTouchScope&trade 走査電子顕微鏡
JSM-IT300HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
JED-2300 Analysis Station™ Plus エネルギー分散形X線分析装置
16:00
終了
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 昼食は近隣の飲食店をご利用下さい。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。

お問合せ

  • 日本電子株式会社 大阪支店
    科学・計測機器営業本部 大阪SIグループ
    川端 (かわばた)
    〒532-0011
    大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル
    TEL: 06-6304-3942 ・ FAX: 06-6304-7377