新型走査電子顕微鏡JSM-IT500HRを販売開始 -毎日の分析業務をさらに早く!より楽に!高輝度電子銃を搭載したハイスループットSEM-

2017/08/06

日本電子株式会社 (代表取締役社長 栗原 権右衛門) は、この度、ハイスループットを追求した、新型走査電子顕微鏡JSM-IT500HRを開発し、2017年8月より販売を開始しました。

開発の背景

走査電子顕微鏡(SEM)はナノテクノロジー、金属、半導体、セラミックスや医学・生物学の分野など、様々な分野で活用され、益々その用途を広げています。また、使用される目的も基礎研究から製造現場、品質管理まで幅広くなっています。それに応じて、電子顕微鏡をリサーチ目的だけでなく、さらに早く高画質データを取得したい、分析を意識しないで、より簡単に組成情報を確認したいという需要が高まっています。

JSM-IT500HRは、このような需要の変化を背景に、ご好評を頂いている当社InTouchScope™シリーズに高輝度電子銃を搭載し、これまでの汎用型SEMの常識を覆す高画質観察と高空間分解能分析を早く行えるSEMとして開発しました。また、自社製エネルギー分散形X線分析装置(EDS)をインテグレーションすることにより、観察から元素分析まで、よりスムーズにデータ取得できます。
操作系はInTouchScope™シリーズでご好評のタッチパネル操作を採用し、オート機能や試料交換ナビを利用することで、煩わしい条件設定や時間のかかる視野探しをすることなく、高品質のデータを誰でも取得できます。

JSM-IT500HRは、性能と使いやすさを進化・融合させたことにより作業効率40%以上の向上を実現しました。(当社従来比)

低真空観察機能を装備したJSM-IT500HR/LV、低真空観察機能およびEDSを標準装備したJSM-IT500HR/LAの2モデルからご選択いただけます。

主な特長

  • 高輝度電子銃により高画質観察と高空間分解能分析が可能
  • ホルダーグラフィック画像、CCD画像とSEM像が連動するZeromag機能により素早く快適な視野探しが可能
  • 観察中も常に元素分析結果が表示されるLive Analysis機能を搭載し、効率の良い元素分析が可能
  • 取得データを一元管理できるSMILE VIEW™ Labにより、観察から分析まで全データのレポート作成が容易
  • 試料交換ナビにより安全で簡単に試料交換が可能
  • 新開発のオートビームアライメントにより、常に最適な状態を維持
  • ドローアウト方式の大型試料室により、様々な形状や大きさの試料の観察・分析に対応
  • 汎用型SEMと同等の省設置スペース

※写真はJSM-IT500HR/LA

本体標準価格

39,000,000円~

販売予定台数

100台/初年度

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