2017/09/20

近年、FE-SEMを用いた材料解析では構造の微細化に伴い、分析・観察において最表面の情報を如何に正確に捉えるかが課題となっています。
本発表では試料最表面観察と、サブミクロン領域の分析を両立するための技術およびそれを用いた材料解析例を紹介します。

本セミナーは、Web上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2017年11月24日(金) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200 名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=ef5a31ee67d642873ad29e1bc67a0bedc

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 656KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)、嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560