2017/10/03

高分子分析討論会は、化学的手法、分光学的手法、各種クロマトグラフ法、熱分析法などによる組成、分子構造、高次構造、構造と物性の相関、物性発現機構、重合機構等の解析に関する基本原理、手法開発、解析実例など、高分子分析・特性解析全般に関する討論会です。
その高分子分析討論会に 弊社は出展し、パネル展示、ポスター発表を行います。
NMR装置、ESR装置をはじめ、質量分析装置、走査型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、およびそれらの前処理に詳しい担当者が多数参加します。
ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。

主催:公益社団法人 日本分析化学会 高分子分析研究懇談会
公式サイト

開催日/詳細

  • 日程:
    2017年10月12日(木)~10月13日(金)
  • 会場:
    つくば国際会議場
    茨城県つくば市竹園2-20-3
    つくばエクスプレス つくば駅 徒歩 10分
    地図

ポスター講演および及び発表

  • 第1日 10月12日(木)

    10:00~10:55 ポスター講演 I
    11:15~12:45 ポスター発表 I
    I-05 SEM を用いたポリマー試料の大面積観察技術の開発
    日本電子株式会社 須賀 三雄、西岡 秀夫、 中村 元弘
    東北大学 多元物質科学研究所 樋口 剛志、陣内 浩司
    I-10 MALDI-MS マススペクトル中の繰り返し構造探索法の検討
    日本電子株式会社 久保 歩、生方 正章、佐藤 貴弥、佐藤 崇文
    14:45~15:40 ポスター講演 II
    16:00~17:30 ポスター発表 II
    II-02 樹脂の熱劣化におけるラジカル挙動の検討 ESR による in-situ 評価
    JEOL RESONANCE株式会社 アプリG 中井 由実
    日本電子株式会社 水田 幸男
    II-04 金属蒸着法による非導電性基板上のイメージング質量分析の検討
    日本電子株式会社 佐藤 貴弥、渡邊 直美、小入羽 祐治、堤 健一
    II-10 熱分解 Fast GC/TOFMS 法及び多変量解析を用いた高分子材料の網羅的解析
    日本電子株式会社 生方 正章、久保 歩、渡邊 直美、佐藤 貴弥、上田 祥久
  • 第2日 10月13日(金)

    09:20~10:15 ポスター講演 III
    10:15~11:45 ポスター発表 III
    III-08 樹脂中の可塑剤に不純物として含まれているフタル酸エステル類の分析
    日本電子株式会社 阿部 吉雄、橋本 将宏、小野寺 潤
    III-10 Capabilities of the remainders of nominal Kendrick masses and the referenced Kendrick mass defects for copolymer ions
    産業技術総合研究所 機能化学研究部門 佐藤 浩昭, Thierry Fouquet
    JEOL USA, Inc. Robert B. Cody
    12:45~13:45 ポスター講演 IV
    13:45~15:15 ポスター発表 IV
    IV-02 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた漆の構造解析
    日本電子株式会社 作田 裕介、髙島 良子、新村 典康
    IV-10 高分子材料に使用される添加剤の高エネルギーCID 測定によるプロダクトイオンスペクトルのライブラリ構築
    日本電子株式会社 渡邊 直美、佐藤 貴弥、生方 正章、上田 祥久、佐藤 崇文、 久保 歩