たった数分でこの精度!XRFによる一次フィルターを使った微量分析 ~軽合金材料編~(WEBセミナー)

2017/11/15

XRFは,その操作性の良さから汎用的な分析に多く用いられる一方、一次フィルターを用いることで数ppm程度の微量分析も行うことができます。しかし従来のXRFには、全元素に対応した一次フィルターを搭載していませんでした。2014年に発表した弊社のXRF:Element Eye™は、最大8種類の一次フィルターを搭載することで、全元素の高感度検出が可能となりました。今回は、一次フィルターを使用した微量分析方法を、軽合金材料を例にとってご紹介します。

本セミナーは、Web上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2018年1月19日(金) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200 名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e76c42b85130cfb1a3e5697dd31466a42

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 656KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)、嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560