2018/01/29

「顕微鏡を使ったISO16232:自動車部品の清浄度検査へのアプローチ」

昨今、オートモーティブ分野では自動車の高性能化に伴い部品の清浄度管理が重要な検査項目となっています。ISO16232が発行され、自動車部品の清浄度検査が標準化される中、顕微鏡を使った管理手法も広がりを見せています。
今回のセミナーでは、光学顕微鏡、電子顕微鏡、EDS分析装置を使ったISO16232準拠の清浄度検査へのアプローチとともに、その他オートモーティブ分野で必要とされている検査・分析手法についてもご紹介致します。
清浄度検査だけでなく金属介在物の自動分析、電子部品の自動コンタミ解析もご案内いたします。
皆さまのご参加をお待ち申し上げております。

共催:日本電子株式会社、株式会社ニコンインステック、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

開催日/会場

  • 日程:
    2018年2月21日(水) 12:45~17:30 (開場 12:15~)
  • 会場:
    日本電子株式会社 東京支店
    〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル18階
    TEL:03-6262-3581
    印刷用地図 (PDF 73.7KB)
    東京支店
  • 会場アクセス:
    JR東京駅 丸の内北口 徒歩5分
    東京メトロ 東西線 大手町駅 B2a出口すぐ
    東京メトロ 丸ノ内線 大手町駅 A5出口すぐ

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • お申込み方法:
    定員となりました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

12:15~12:45 開場
12:45~12:50 開会のご挨拶
12:50~13:10 「ISO16232:自動車部品の清浄度検査の概要」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
13:10~14:10 「光学顕微鏡法による清浄度検査とコンタミ解析」
株式会社ニコンインステック/三谷商事株式会社
14:10~15:10 「自動粒子解析(清浄度検査・金属部品介在物・異物解析)における電子顕微鏡」
日本電子株式会社
15:10~15:25 コーヒーブレイク(休憩、質問タイム)
15:25~16:25 「SEM-EDS法による自動粒子解析と清浄度検査」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
16:25~17:25 「オートモーティブ分野のための検査・分析ソリューション」
~X線CTを用いた自動車部品非破壊検査、質量分析計を用いた自動車室内VOC分析、SEM-EBSDを用いた自動車軽量化のための結晶解析~
株式会社ニコンインステック/日本電子株式会社/オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
17:25~17:30 閉会のご挨拶

お問い合わせ

  • オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
    分析機器事業部
    担当:五十嵐・三井
    TEL:03-6732-8967
    FAX:03-6732-8939
    E-mail: na-mail.jp@oxinst.com