新型走査電子顕微鏡JSM-IT200シリーズ InTouchScope™ を販売開始　―　すぐ観察！すぐ分析！すぐ報告！　分析装置がツールにかわる　―

2018/03/26

日本電子株式会社（代表取締役社長　栗原 権右衛門）は、新型走査電子顕微鏡JSM-IT200シリーズを開発し、2018年3月より販売を開始しました。

開発の背景

走査電子顕微鏡はナノテクノロジー、金属、半導体、セラミックスや医学・生物学の分野など、様々な分野で活用され、益々その用途を広げています。また、使用される目的も基礎研究から製造現場、品質管理まで幅広くなっており、それに応じて、より早く、より簡単に観察・分析データを取得したいという需要が高まっています。

こうしたニーズに応え、ハイスループットでご好評を頂いている当社InTouchScope™シリーズの上位機種JSM-IT500シリーズと同じ機能を搭載し、よりシンプルで使いやすいJSM-IT200シリーズを開発しました。JSM-IT500シリーズ同様に毎日の分析業務がさらに早く、より楽に行え、スループットが従来機種（JSM-IT100シリーズ）よりも約35%向上しました。（当社比）

シンプルな構成のJSM-IT200BU、低真空観察機能を装備したJSM-IT200LV、EDSを標準装備したJSM-IT200A、低真空観察機能およびEDSを標準装備したJSM-IT200LAの4モデルからご選択いただけます。

主な特長

  • 試料交換ナビにより安全で簡単に試料交換が可能
  • 走査電子顕微鏡（SEM）とエネルギー分散形X線分析装置（EDS）をインテグレーションすることにより、観察から分析までよりスムーズにデータ取得可能
  • ホルダーグラフィック画像、CCD画像とSEM像が連動するZeromag機能により、素早く快適な視野探しが可能
  • 2軸モーターステージ（X,Y）とモンタージュ機能（画像のつなぎ合わせ）を標準搭載することにより、広い領域（mm単位）のSEM像や元素分布をCCD画像から指定して取得可能
  • 観察中も常に元素分析結果が表示されるLive Analysis機能を搭載し、効率の良い元素分析が可能
  • 取得データを一元管理できるSMILE VIEW™ Labにより、観察から分析まで全データのレポート作成が容易

JSM-IT200(LA)本体
※写真はJSM-IT200(LA)

本体標準価格

10,000,000円～

販売予定台数

300台/年間

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