第11回 SEMユーザーズミーティング・第37回 EPMA表面分析ユーザーズミーティング(東京)

2018/06/13

本年のSEM/EPMA表面分析ユーザーズミーティングは下記の日程での開催を予定しております。
また、本年はより多くの方に参加していただけるように会場を変更し、「浅草橋ヒューリックホール」にて開催いたします。
新技術発表をはじめ、さまざまな分野を網羅した講演をお届けします。
お申し込みにつきまして、弊社の製品をご使用頂いているお客様向けに改めて開催のお知らせを差し上げます。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

日本電子株式会社
東京大学・日本電子産学連携室

 

※ご連絡※

  • 本ユーザーズミーティングのご参加は、弊社装置をお使いの方に限らせていただきます。
  • ご来場の際、受付で名刺を頂戴します。お手数ですが事前にご用意をお願いします。

開催日/会場

  • 日程:
    2018年10月2日 (火) 第11回 SEMユーザーズミーティング
    2018年10月3日 (水) 第37回 EPMA表面分析ユーザーズミーティング
  • 会場:
    浅草橋ヒューリックホール
    〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
    地図
  • アクセス:
    JR総武線「浅草橋駅(西口)」より徒歩1分
    都営浅草線「浅草橋駅(A3出口)」より徒歩2分

お申し込み

プログラム

SEMユーザーズミーティングプログラム

時間 演題
発表者
9:30~ 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:40 「あっ」という間に働き方改革 -新製品 JSM-IT200のご紹介-
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部  河野 林太郎
10:40~11:20 プラスチックの破損解析 -破面解析について-
旭有機材株式会社 環境安全・CS品質部 CS品質グループ  西村 圭市 様
11:20~11:50 光顕を上手に使って効率アップ -OM・SEMリンケージシステムのアプリケーション紹介-
日本電子株式会社 EP事業ユニット EP技術開発部  鈴木 克之
11:50~13:20 昼食休憩/ランチョンセミナー
13:20~13:50 「あっ」という間に3次元 -新型反射電子検出器の紹介-
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部  作田 裕介
13:50~14:20 品質管理から異物分析まで 粒子解析による自動分析システムの紹介
日本電子株式会社 周辺機器事業ユニット EC技術開発部  鈴木 慎太朗
14:20~15:00 ブレーキ摩耗粉定量評価技術開発 ナノ粒子分析技術開発
曙ブレーキ工業株式会社 先行摩擦材開発部門 次世代摩擦材開発  中川 秀彦 様
15:00~15:20 コーヒーブレイク/ポスター展示
15:20~16:00 ミクロな化石から探る地球環境の変遷 -放散虫の内部構造からチャートの堆積過程まで-
国立大学法人宇都宮大学 農学部 生物資源科学科 教授  相田 吉昭 様
16:00~16:30 走査電子顕微鏡の観察と分析における加速電圧の影響
日本電子株式会社 ソリューション企画推進本部 R&D推進部 講習グループ 講習チーム  溜池 あかね
16:30~16:40 閉会挨拶
16:40~18:00 ミキサー
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

 

EPMAユーザーズミーティングプログラム

時間 演題
発表者
9:20~ 受付
9:50~10:00 開会挨拶
10:00~10:25 鋭敏化したステンレス鋼のEPMA分析とその前処理
日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発 3グループ  土門 武
10:25~11:00 鋳造材料とその組織 -組織を理解すれば用途も広がる-
国立研究開発法人 物質材料研究機構  高森 晋 様
11:00~11:25 EPMA-SXESを用いたポリマー分析の試み
日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発 3グループ  高倉 優
11:25~13:00 昼食休憩/ランチョンセミナー
13:00~13:35 北海道大学共同利用施設でのAES・XPS分析事例の紹介
国立大学法人 北海道大学 工学研究院  鈴木 啓太 様
13:35~14:00 XPS波形分離におけるバックグラウンド、ピーク位置、ピーク幅の決め方 -ポリマーを中心とした標準スペクトルの利用-
日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発 3グループ  村谷 直紀
14:00~14:25 XRFによるソフトマテリアルの定量分析 -試料厚みの落とし穴とスマートFP法の自動厚さ補正-
日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発 3グループ  宇津木 里香
14:25~15:00 コーヒーブレイク/ポスター展示
15:00~15:35 光学薄膜の不具合解析と薄膜材料開発における表面分析装置の適用事例
稀産金属株式会社 生産技術開発部  猪俣 崇 様
15:35~16:10 EPMAを用いた分析事例と各種前処理法の紹介
株式会社ユニケミー  今村 直樹 様
16:10~16:35 EPMA分析の留意点 -カラーマップの濃度化について-
日本電子株式会社 ソリューション企画推進本部 R&D推進部 講習グループ 講習チーム  脇元 理恵
16:35~16:40 閉会挨拶
16:40~18:00 ミキサー
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
担当: 内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
TEL: 03-6262-3560 ・ FAX: 03-6262-3577