美麗な像が未来をつくる ~JSM-IT800‹SHL›の各検出器による情報選択~

2020/10/22
(更新日: 2020/12/10)

JSM-IT800‹SHL›は情報選択を可能とする多種検出器を光軸上に搭載した最新のハイエンドFE-SEMです。
SEMは電子線の照射により試料から放出された電子を取得して像を形成します。しかし、試料が持つ様々な情報は、電子のエネルギーや放出角度によって異なり、多種類の検出器を使い分けることで必要な情報を選択することができます。
一方、多種類の検出器の歴史は浅く、それを用いた応用紹介が少ないため、オペレータはその検出器選択に困惑することがありました。
本セミナーでは、各検出器の特長と各検出器での情報選択について応用例を交えて紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。


"このウェビナーから学べること"
  • JSM-IT800の新機能と特長
  • JSM-IT800に搭載された各検出器の特長と応用例
  • 様々な試料における最適な検出器の選択方法と使い方
  • 観察条件の変化による像の見え方の違い
"参加いただきたいお客様"
  • ハイエンドSEMの導入をご検討中の方
  • SEMユーザーの方
  • 観察時の検出器選択に困っている方
  • 各検出器を用いた応用例に興味のある方

講演者:


日本電子株式会社 EP事業ユニット 山口 祐樹

開催日/詳細

  • 講演日時:
    2020年11月19日 (木) 16:00~16:30
    講演後に質疑応答の時間があります。

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参加費

  • 参加費:
    無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法

ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。

動画

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