SEM観察の基礎と応用 ~試料情報を引き出す前処理と観察条件設定~

2021/01/05
(更新日: 2021/3/18)

最近の走査電子顕微鏡(SEM)はフォーカス・スティグマなど、自動調整機能の発達により、誰でも簡単に像取得ができるようになりました。しかし、試料からの情報を的確に捉えるためには、観察目的に合った試料前処理及び観察条件に調整する必要があります。
本セミナーでは、SEMをさらに活用するための試料に応じた前処理から観察条件について紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • SEM観察のための試料前処理
  • SEMの観察条件設定

"参加いただきたいお客様"

  • これからSEMを使い始める方
  • 試料の前処方法に不安のある方
  • 装置の条件設定でお悩みの方

講演者:

石野 真友

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMチーム

講演者

開催日/詳細

  • 講演日時:
    2021年2月18日 (木) 16:00~16:30

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参加費

  • 参加費:
    無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法

ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。

動画

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