JCM-7000を使うとこんなに簡単!電子部品の機械研磨断面を迅速解析します

2022/04/18

走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。
機械研磨面は広領域の断面が得られるため、卓上SEM JCM-7000のZeromag機能およびモンタージュ機能が有効です。さらに、EDS (エネルギー分散型X線分光器) を使うと、特定元素の有無および元素分布情報を得ることができます。今回は、JCM-7000を使った電子部品断面の迅速解析手法を紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 電子部品断面の解析手法
  • 卓上SEM JCM-7000で簡易測定するための機能紹介とその使い方
  • mmオーダー試料に対するSEMでの解析方法

"参加いただきたいお客様"

  • 現在卓上SEMをご検討 / 既納している方
  • 簡便にSEM観察、EDS分析を使用したい方
  • 装置をオープンで使って欲しいと思っている装置管理者
  • スクリーニング検査を実施したい方
  • 電子部品の断面解析をしている / これから実施される方
  • ハイエンド装置のサブ機として使いたい方

講演者

中嶌 香織

EP事業ユニット
EPアプリケーション
SEMグループ
第1チーム

開催日/詳細

  • 2022年5月20日 (金) 16:00~17:00
  • 講演後に質疑応答の時間があります。

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発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。