FIB-SEMのクライオ技術のご紹介
2022/07/25
クライオ電子顕微鏡法がノーベル化学賞を受賞して5年が経ち、単粒子解析から、クライオ電子線トモグラフィー (ET) やマイクロ電子回折 (ED) 等へと応用範囲が広がっています。クライオETやマイクロEDでは、FIBによる凍結試料の試料作製、FIBからTEMへの装置間の凍結試料の搬送が必須となります。今回の発表では、FIB-SEMのクライオ化に伴う改良点や搬送機構、クライオユニットを用いた応用例をご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- FIB-SEMによる凍結試料の応用例
- クライオFIB-SEMからクライオTEMへの試料搬送について
- FIB-SEMのクライオ化のための改良点
"参加いただきたいお客様"
- 凍結試料の試料作製にご興味のある方
- 凍結試料の試料観察法にご関心のある方
- クライオFIB-SEMにご注目されている方
講演者
松島英輝
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
FIBグループ
開催日/詳細
- 2022年8月26日 (金) 16:00～17:00
- 講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。