2022/07/25

クライオ電子顕微鏡法がノーベル化学賞を受賞して5年が経ち、単粒子解析から、クライオ電子線トモグラフィー (ET) やマイクロ電子回折 (ED) 等へと応用範囲が広がっています。クライオETやマイクロEDでは、FIBによる凍結試料の試料作製、FIBからTEMへの装置間の凍結試料の搬送が必須となります。今回の発表では、FIB-SEMのクライオ化に伴う改良点や搬送機構、クライオユニットを用いた応用例をご紹介いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • FIB-SEMによる凍結試料の応用例
  • クライオFIB-SEMからクライオTEMへの試料搬送について
  • FIB-SEMのクライオ化のための改良点

"参加いただきたいお客様"

  • 凍結試料の試料作製にご興味のある方
  • 凍結試料の試料観察法にご関心のある方
  • クライオFIB-SEMにご注目されている方

講演者

松島英輝

EP事業ユニット
EPアプリケーション部
FIBグループ

開催日/詳細

  • 2022年8月26日 (金) 16:00~17:00
  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。