2017/9/4

EPMA・表面分析ユーザーズミーティングはお陰様をもちまして今年36回目を迎えます。これもひとえに皆様方の暖かいご支援・ご愛顧の賜物と深く感謝しております。今回もEPMA・表面分析に関する新しい応用技術・解析法などを紹介させて頂くと共に、最先端の研究分野に携わる方々にご講演をお願いしております。さらに会場では、ポスター・装置の展示、情報交換の場としてミキサーを予定しておりますので、有意義にご利用いただければ幸いに存じます。時節柄ご多忙とは存じますが、何卒ご参加下さいますよう謹んでご案内申し上げます。

日本電子株式会社

開催日/会場

  • 日時:
    2017年10月12日(木) 9:50~ (受付 9:20より)
  • 会場:
    千里ライフサイエンスセンター5階 ライフホール
    〒560-0082 大阪府豊中市新千里東町1-4-2
    TEL : 06-6873-2010
    地図
    ※東京と大阪の2会場で開催いたします。東京会場はこちら

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 申込期日:
    2017年9月29日(金)
    ※お早めにお申し込みください。誠に恐れ入りますが定員になり次第、締め切らせていただきます。
  • お申し込み方法:
    こちらのフォーム からお申込み下さい。
    もしくはこちらのPDF(461KB)にご記入のうえお申込み下さい。
    ※競合製品取り扱い企業様の申し込みにつきましては、お断りする場合がございますので予めご了承ください。

プログラム

9:20~9:50 ◆◇◆ 受付 ◆◇◆
9:50~10:00 開会挨拶
日本電子株式会社
10:00~10:25 自動相解析の使い方と読み方 -誰でも簡単、高速クラスター分析-
日本電子株式会社 SA 事業ユニット 森 憲久
10:25~11:00 EPMAに搭載された軟X線検出器を用いたソフトマテリアルの解析
株式会社東レリサーチセンター 大塚 祐二 様
11:00~11:35 実戦的なガラス、セラミックスの評価・解析方法と機器分析技術伝承活動
旭硝子株式会社 市倉 栄治 様
11:35~13:05 ◆◇◆ 昼食・装置/ ポスター展示セッション ◆◇◆
13:05~13:30 AESを用いた低加速SEM-EDSによる表面分析の評価 -加速電圧と深さ情報・ピークオーバーラップ-
日本電子株式会社 SA 事業ユニット 吉田 木の実
13:30~14:05 福島第一原子力発電所事故の影響を受けた環境試料分析の試み
国立研究開発法人 日本原子力研究開発機構 土肥 輝美 様
14:05~14:40 各種材料におけるAES活用方法について
日鉄住金テクノロジー株式会社 金子 稔 様
14:40~15:00 ◆◇◆ 休憩/ ポスター展示セッション ◆◇◆
15:00~15:25 新しい軟X線分光器の紹介 -Na-K検出から遷移金属L線の分析-
日本電子株式会社 SA 事業ユニット 村野 孝訓
15:25~15:50 XPSによる化学状態分析時の落とし穴 -合金化によって起きるピークシフト-
日本電子株式会社 SA 事業ユニット 村谷 直紀
15:50~16:15 ED-XRFによる微量元素の検出下限 -スクリーニングからppmオーダー分析まで-
日本電子株式会社 SA 事業ユニット 宇津木 里香
16:15~16:40 EPMA分析の留意点‐分析X線の選択について
日本電子株式会社 ソリューション企画推進本部 脇元 理恵
16:40~16:50 閉会挨拶
日本電子株式会社
16:50~18:00 ◆◇◆ 懇親会 ◆◇◆
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問合せ先

日本電子株式会社 EPMAユーザーズミーティング事務局
内野(ウチノ)・廣川(ヒロカワ)
〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル13F
TEL : 03-6262-3560 FAX : 03-6262-3577