2018/11/5
(更新日: 2018/12/4)

昨年の第10回 TEMユーザーズミーティングでは多くのユーザーの皆様にご出席を賜り、誠に有り難く深く感謝申し上げます。
ユーザーの皆様とのさらなる情報交換の場、新技術情報ご提供、実践的技術情報ご提供およびコミュニケーションを目的としまして、今年も第11回 TEMユーザーズミーティングを開催することになりました。会場では、ポスターや装置の展示、情報交換の場として懇親会も予定しておりますので、有意義にご活用いただければ幸いに存じます。
時節柄ご多忙かとは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。

主催:東京大学・ 微細構造解析プラットフォーム
東京大学・日本電子産学連携室

 

※ご連絡※

  • 日本電子の装置をお持ちのお客様向けのセミナーです。
  • ご来場の際、受付で名刺を頂戴します。お手数ですが事前にご用意をお願いします。

開催日/会場

  • 日程:
    2018年12月7日(金) 10:00~ (受付 9:30~)
  • 会場:
    東京大学 浅野キャンパス 工学部 武田先端知ビル5階 武田ホール
    〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16
    TEL 03-3812-8524 (東京大学・日本電子産学連携室)
    地図
  • アクセス:
    東京メトロ(地下鉄) 千代田線 根津駅下車1番出口 徒歩7分
    東京メトロ(地下鉄) 南北線 東大前駅下車1番出口 徒歩10分
    JR御茶ノ水駅または上野駅より 都バス 東大構内行き 東大構内(終点)バス停下車 徒歩8分
    JR御茶ノ水駅より 都バス 駒込駅、王子駅または荒川土手行き 東大農学部前バス停下車 徒歩10分

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 申込締切:
    2018年12月3日(月) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。
  • お申し込み方法:
    ※受付は終了いたしました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

時間 演題
発表者
9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:30 FIBによる試料作製の自動化
日本電子株式会社 三平 智宏
10:30~11:00 TEM-EDSの定量分析と実際
日本電子株式会社 森田 正樹
11:00~11:20 ゴム試料のTEM内引張りその場観察 -メルビル社製引張りホルダーを使って-
日本電子株式会社 青山 佳敬
11:20~13:10 昼食 (ポスター展示セッション)
13:10~13:30 最新のクライオ電子顕微鏡で迫るタンパク質の構造
日本電子株式会社 福村 拓真
13:30~13:50 高速ピクセル型STEM検出器4DCanvas™による応用研究紹介
日本電子株式会社 佐川 隆亮
13:50~14:00 休憩
14:00~14:50 STEM-EELSによる化学マッピングの基礎と応用 -特に実用材異相界面および不純物占有サイト同定への応用-
名古屋大学 武藤 俊介 様
14:50~15:20 休憩 (ポスター展示セッション)
15:20~16:10 高速原子分解能透過電子顕微鏡で拓く新しい分子科学の世界
東京大学 中村 栄一 様
16:10~16:20 休憩
16:20~17:00 ソフトマテリアル電顕評価のための前処理・観察・解析の検討
帝人株式会社 広瀬 治子 様
17:00~17:10 閉会挨拶
17:10~ 懇親会
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
担当: 内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
E-Mail:jeolum@jeol.co.jp
TEL: 03-6262-3560 ・ FAX: 03-6262-3577