大学、研究所あるいは企業で行われている基礎科学分野の研究に対して、物質のマクロからナノ領域までの形態、元素分布、構造解析などを各種電子顕微鏡やMS、NMRなどの日本電子の化学構造解析装置が貢献することができます。
製品ラインナップ
アプリケーションノート APPLICATION NOTE
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MALDI Application: JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた導電部・非導電部混在基板上のイメージング質量分析
MSTips No.288
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卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 アプリケーションの紹介
MP2019-001
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PECVDチャンバー内の反応ガス分析 ～高質量分解能TOFMSを用いた反応モニタリング～
MSTips No.281
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JEOL GC-MS 前処理法ガイドブック
ますます拡がるGC-MSアプリケーション
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電解ESR – 電解時間と電圧依存性 –
ER180012
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電解ESR – 支持電解質量依存性 –
ER180013
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材料のESR – 塗料の劣化評価 ④ -
ER180010
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材料のESR – 塗料の劣化評価 ③ -
ER180009
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材料のESR – 塗料の劣化評価 ① -
ER180007
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材料のESR – 塗料の劣化評価 ② -
ER180008
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MALDI Application: JMS-S3000 "SpiralTOF™"と"Remainders of KM" プロット法を用いた多分散度の大きいポリマーの組成マッピング
MSTips No.269
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JEOL NEWS Vol.53
JEOL NEWS Vol.53/ July 2018
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GAS Analysis Application: TG-HRMS SYSTEMを用いた鉄粉加熱時の放出ガス分析
MSTips No.276
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超高速MAS1H固体NMRによる医薬品製剤の水素結合ネットワークの解析
NM180004
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日本電子news Vol.49
日本電子news Vol.49 2017年5月号
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材料のESR - 電気検出磁気共鳴 ① -
ER170007
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成膜加工に利用される電子ビーム蒸着の最新技術
日本電子news Vol.49 No.8
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ガス分析用高分解能TOF-MS JMS-MT3010HRGA INFITOFの紹介
日本電子news Vol.49 No.7
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EPMA新製品JXA-8530FPlusの紹介
日本電子news Vol.49 No.6
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ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発
日本電子news Vol.49 No.5
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次世代200 kVクライオTEMの紹介
日本電子news Vol.49 No.4
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MALDI Application: SpiralTOF™ を用いたSolvent-free法による低分子量 ポリエチレンの分析
MSTips No.235
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キュリー・ワイスの法則とESR基本方程式に基づく定量分析法 "有効磁気モーメント法"
日本電子news Vol.49 No.3
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大阪大学「物質・生命科学超高圧電子顕微鏡」による材料極微プロセスの時空間解析
日本電子news Vol.49 No.2
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材料のESR – 半導体 ① -
ER170006