金属

Rapid Characterization of Bacteria Using ClairScope and SpiralTOF

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

JEM-2100: Applications in Nanotechnology

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

超高分解能STEMによる複雑化合物の局所解析

日本電子News Vol.42, 2010

Lithium Atom Microscopy at Sub-50pm Resolution by R005

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Atomic-Resolution Elemental Mapping by EELS and XEDS in Aberration Corrected STEM

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Ultrahigh-Resolution STEM Analysis of Complex Compounds

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

イオンスライサによる試料作製技術：バルク試料作製法

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察4:アナグリフ方式ステレオ写真

イオンスライサの概要

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察3:ステレオメガネの紹介

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察2:ステレオ写真の見かた

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察１:ステレオSEM写真の原理

80kHzの超高速試料回転を可能とする1mm MASシステムのご紹介

NM100001

時間分解ESRによるポリマー中間体の測定 Ⅱ

ER100001

収差補正STEMにおける分析能力の向上

フラーレンピーポットの観察

断面試料作製装置アプリケーション：多孔体物質の構造研究における高分解能走査電子顕微鏡法の役割

日本電子News Vol.41, 2009

固体高分解能NMRで、低感度の半整数スピン核を解析するために！～STMAS Probe～

NM090002

低真空SEMの耐火物試料への応用

汎用走査電子顕微鏡の応用について

低真空分析ＳＥＭの絶縁体試料への応用

ESRによる微量銅錯体の高感度測定

ER080004

極低温測定アタッチメント － 液体He温度可変装置 ES-CT470

ER080003

ESR年代測定－その2－

ER080002

SEMによる結晶解析 (EBSD)例