金属

Niメッキ分析ソフトウェア(RoHS)：蛍光X線分析装置JSXシリーズ

RoHSスクリーニング：蛍光X線分析装置JSXシリーズ

磁石の蛍光Ｘ線分析：フェライト磁石の比較

Snメッキ分析ソフトウェア(RoHS)：蛍光X線分析装置JSXシリーズ

サムピーク除去ソフトウェア：蛍光X線分析装置JSXシリーズ

High Resolution Imaging and Spectroscopy Using CS-corrected TEM with Cold FEG JEM-ARM200F

JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012

Adapting a JEM-2100F for Magnetic Imaging by Lorentz TEM

JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012

Application of Scanning Electron Microscope to Dislocation Imaging in Steel

JEOLnews Volume 46, Number 1,2011

最新のEPMA紹介：JXA-8230/JXA-8530F

大気非曝露条件下での断面試料作製：リチウムイオン電池材料への応用例

FIBによるTEM試料作製法：ダメージ除去手法

FIBによるTEM試料作製法：バルクピックアップ法

半整数四極子核NMRの感度向上法：DFSとRAPT

NM120014

CPMG観測による²⁹Si 固体NMRスペクトルの高感度測定;²⁹Si-¹H HETCORおよび²⁹Si DQMASへの応用

NM120013

試料回転の高速化と静磁場の高磁場化の¹H NMRへのインパクト

NM120011

非常に高感度な極低温プローブUltraCOOLプローブのご案内

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Homonuclear covariance transformation in solid-state NMR!

NM120006

新しいESR装置 JES-X3シリーズ

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新型マグネットのご紹介

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MAGIC SHIMMING:固体NMR自動シミング法 特別なハードウェアは一切不要です！

NM120002

JPS-9200応用データ紹介(2)：マイクロ分析測定例 2

JPS-9200応用データ紹介(1)：マイクロ分析測定例

AESにおける絶縁物試料分析

日本電子News Vol.42, 2010

JAMP-9500F用オプション装置の紹介 (2)

JAMP-9500F用オプション装置の紹介 (1)