金属

イオンスライサによる試料作製技術4:小さいサイズの試料作製法

FIB による試料作製概要

イオンスライサによる試料作製技術3:粉体試料作製法

FIB の加工特性：加工ダメージ

広領域 SEM/EBSD 法の確立

焦点深度が深い走査電子顕微鏡:金属破断面の観察例

Rapid Characterization of Bacteria Using ClairScope and SpiralTOF

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

JEM-2100: Applications in Nanotechnology

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

超高分解能STEMによる複雑化合物の局所解析

日本電子News Vol.42, 2010

Lithium Atom Microscopy at Sub-50pm Resolution by R005

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Atomic-Resolution Elemental Mapping by EELS and XEDS in Aberration Corrected STEM

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

Ultrahigh-Resolution STEM Analysis of Complex Compounds

JEOLnews Volume 45, Number 1, 2010

FIB の像コントラスト

イオンスライサによる試料作製技術：バルク試料作製法

FIB の概要

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察4:アナグリフ方式ステレオ写真

イオンスライサの概要

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察3:ステレオメガネの紹介

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察2:ステレオ写真の見かた

走査電子顕微鏡（SEM）でのステレオ（３D）写真の撮影と観察１:ステレオSEM写真の原理

80kHzの超高速試料回転を可能とする1mm MASシステムのご紹介

NM100001

時間分解ESRによるポリマー中間体の測定 Ⅱ

ER100001

収差補正STEMにおける分析能力の向上

フラーレンピーポットの観察

断面試料作製装置アプリケーション：多孔体物質の構造研究における高分解能走査電子顕微鏡法の役割

日本電子News Vol.41, 2009