金属

高空間分解能X線像の測定条件の考察

アスベスト　繊維の観察・分析に便利です！：JXA-8500F、JXA-8100

CP加工断面のオージェ分析例 (1)

最新の静電半球アナライザを用いたナノ領域オージェマッピング (2)

イオンスライサによる試料作製技術5:繊維状試料断面作製法

Study of Nanoparticles at UTSA: One Year of Using the First JEM-ARM200F Installed in USA

JEOLnews Volume 46, Number 1,2011

Development of JEM-2800 High Throughput Electron Microscope

JEOLnews Volume 46, Number 1,2011

JEM－2800ハイスループット電子顕微鏡の開発

日本電子News Vol.43, 2011

ブロードアルゴンイオンビームを用いた高分子材料の断面作製

材料のESR－炭素－

ER110001

FIBによるTEM試料作製法：リフトアウト法

Preparation of High Quality Cross Section of Bone Tissue for SEM：Application of Cross-section Polisher to Biological Specimen

合金分析

ハンドヘルド蛍光X線分析装置 : 合金分析ソフトウェア

地球化学分析

ハンドヘルド蛍光X線分析装置 : 地球化学分析ソフトウェア

土壌分析

ハンドヘルド蛍光X線分析装置 : 土壌分析ソフトウェア

文化財

ハンドヘルド蛍光X線分析装置 : 土壌/地球化学/合金分析ソフトウェア

RoHS /WEEE

ハンドヘルド蛍光X線分析装置 : RoHS分析ソフトウェア

High-power Electron Beam Source used for Melting Metal Materials ：Vacuum melting furnace for polycrystalline silicon refinement

JEOLnews Volume 43, Number 1, 2008

イオンスライサによる試料作製技術4:小さいサイズの試料作製法

FIB による試料作製概要

イオンスライサによる試料作製技術3:粉体試料作製法

FIB の加工特性：加工ダメージ

広領域 SEM/EBSD 法の確立

FIB の加工特性：エッチングレート

焦点深度が深い走査電子顕微鏡:金属破断面の観察例