金属

High Resolution Imaging and Spectroscopy Using CS-corrected TEM with Cold FEG JEM-ARM200F

JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012

Adapting a JEM-2100F for Magnetic Imaging by Lorentz TEM

JEOLnews Volume 47, Number 1, 2012

Application of Scanning Electron Microscope to Dislocation Imaging in Steel

JEOLnews Volume 46, Number 1,2011

最新のEPMA紹介：JXA-8230/JXA-8530F

大気非暴露条件下での断面試料作製：リチウムイオン電池材料への応用例

FIBによるTEM試料作製法：ダメージ除去手法

FIBによるTEM試料作製法：バルクピックアップ法

半整数四極子核NMRの感度向上法：DFSとRAPT

NM120014

CPMG観測による²⁹Si 固体NMRスペクトルの高感度測定;²⁹Si-¹H HETCORおよび²⁹Si DQMASへの応用

NM120013

試料回転の高速化と静磁場の高磁場化の¹H NMRへのインパクト

NM120011

非常に高感度な極低温プローブUltraCOOLプローブのご案内

NM120007

Homonuclear covariance transformation in solid-state NMR!

NM120006

新しいESR装置 JES-X3シリーズ

ER120003

新型マグネットのご紹介

NM120003

MAGIC SHIMMING:固体NMR自動シミング法 特別なハードウェアは一切不要です！

NM120002

JPS-9200応用データ紹介(2)：マイクロ分析測定例 2

JPS-9200応用データ紹介(1)：マイクロ分析測定例

AESにおける絶縁物試料分析

日本電子News Vol.42, 2010

JAMP-9500F用オプション装置の紹介 (2)

JAMP-9500F用オプション装置の紹介 (1)

オージェマッピングに必要な電子線の照射条件

P/B 別測定法とPB同時測定法の違い

最新の静電半球アナライザを用いたナノ領域オージェマッピング (1)

広域オージェマッピング測定結果

領域指定によるオージェ像収集