弊社では対象装置の保守契約のお客様向けに装置の性能をフルに引き出していただけるよう、Web講習会を開催しております。

※講習会へのご参加は事前のお申し込みが必要です。

目的 SEM基礎:信号による情報の違い
EDS入門:失敗から学ぶ正しい分析方法(試料の準備編)
開催日 2021年6月4日(金) *終了
2021年9月16日(木) *終了
2021年12月10日(金)
※午前 (10:00~11:30) と午後 (15:00~16:30) の2回 (SEMとEDS) に分けて実施
受講料 無料 (有償でのお申し込みは不可)
対象 タングステンSEM保守契約のお客様
前提コース 特にありません
使用装置 JSM-ITシリーズ(タングステンSEM)
定員 200名程
コース概要

【SEM基礎】

最近の走査電子顕微鏡は、試料の装着から観察までどなたでも簡単に扱えるようになりました。しかしながら「信号を変えた時に急に画面が暗くなり像が出ない」「思ったような構造が観察できない」などの経験はございませんか?信号の特徴について知ることで、観察しやすくなり、正しい試料情報が得られます。今回のセミナーでは「信号による情報の違い」と題しまして、信号を取得している検出器について例を挙げながらより良い使用方法をご紹介いたします。

【EDS入門】

EDS分析では比較的簡単に、定性・定量・MAPなどの結果を得ることができます。しかしその結果は正しいのでしょうか?実はEDS分析の結果は、試料の状態や分析方法によって大きく変わってしまう場合があります。今回のセミナーでは「失敗から学ぶ正しい分析方法(試料の準備編)」と題しまして、試料表面の凹凸や傾斜、試料の帯電などによる分析結果の変化について例を挙げながらご紹介いたします。

質疑応答 SEM、EDS各セミナー終了後にそれぞれ実施いたします。

お問い合わせ先

フィールドソリューション事業部 SIフィールドサービス本部
ソリューションビジネス部 ソリューション企画推進グループ

042-526-5098