弊社では対象装置の保守契約のお客様向けに装置の性能をフルに引き出していただけるよう、Web講習会を開催しております。

※講習会へのご参加は事前のお申し込みが必要です。

目的 SEM入門:写真で観る観察条件の決め方
EDS入門:失敗から学ぶ正しい分析方法 (分析条件編)
開催日 2022年6月24日 (金)
2022年9月30日 (金)
2022年12月23日 (金)
※午前: SEM (10:00~11:30) と午後: EDS (13:30~15:00) の開催となります。
受講料 無料 (有償でのお申し込みは不可)
対象 タングステンSEM保守契約のお客様
前提コース 特にありません
使用装置 JSM-ITシリーズ (タングステンSEM)
定員 200名程
コース概要

【SEM入門】

走査電子顕微鏡は簡単に試料を観察できる装置です。
しかし、普段使用していて「なんだか像がシャープに見えない」「どのような条件で観察したら良いかわからない」ということはございませんか?
その場合は軸合わせや条件設定を変えることで、今までより更に良い像を得られるかもしれません。
本セミナーでは、観察に苦戦しているAさんと共に、正しい軸合わせの方法や、条件設定の考え方をご紹介します。

【EDS入門】

EDS分析では比較的簡単に、定性・定量・MAPなどの結果を得ることができます。
しかし、その結果は正しいのでしょうか?実はEDS分析の結果は、試料の状態や分析方法によって大きく変わってしまう場合があります。
本セミナーでは「失敗から学ぶ正しい分析方法 (分析条件編)」と題しまして、作動距離や加速電圧、CPSなど分析結果の変化について例を挙げながらご紹介いたします。

質疑応答 SEM、EDS各セミナー終了後にそれぞれチャット形式で実施いたします。

お問い合わせ先

フィールドソリューション事業部 SIフィールドサービス本部
ソリューションビジネス部 ソリューション企画推進グループ

042-526-5098