アクセス
お問い合わせ
GLOBAL SITE
メールマガジン
製品情報
PRODUCTS
アプリケーションノート
APPLICATIONS NOTES
サービス&ソリューション
SERVICE & SOLUTION
会社情報
ABOUT US
採用情報
RECRUIT
製品情報
透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 (TEM)
透過電子顕微鏡周辺機器
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 (SEM)
走査電子顕微鏡周辺機器
イオンビーム応用装置
断面試料作製装置 (CP)
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
微小領域分析・表面分析装置
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)
オージェマイクロプローブ (Auger)
光電子分光装置 (XPS、ESCA)
磁気共鳴装置
核磁気共鳴装置 (NMR)
電子スピン共鳴装置 (ESR)
計測機器
その他装置
(XtaLAB Synergy-ED、X線CT微細構造解析システム、
顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
X線分析装置
蛍光X線分析装置
(卓上)
質量分析計
極微量物質定量解析システム
JMS-Q1600GC QuantAnalyzer
マルチイオン化-未知物質解析システム
JMS-T2000GC MultiAnalyzer
GC-MS、Gas Analysis MS
LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS
質量分析計周辺機器 / ソフトウェア
半導体製造装置
電子ビーム描画装置
3Dプリンター
電子ビーム金属3Dプリンター（AM）
成膜関連機器・材料生成機器
成膜関連機器
(電子銃・プラズマ源・他)
材料生成機器
(ナノ粒子合成／ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)
自動分析装置
生化学自動分析装置
アプリケーションノート
基礎研究
化学
自動車
薬品
ガラス・セラミクス・セメント
教育
電池・エネルギー
半導体・電子部品
ゴム・プラスチック
医学・生物
環境・アスベスト
食品
金属
サービス&ソリューション
サービス
サポートプラン（パーコール・オーバーホール）
保守契約
リユース事業
レンタルのご紹介
安全にお使いいただくために
アップグレード
サービスサポート
災害時の対応マニュアル
販売を終了した製品
安全データシート(SDS)
ソリューション
設置環境対策
受託分析
講習
サブスクリプションサービス「JEOL-rento」
ブリッジングサービス
ステップアップサービス
シェアリングサービス
CPレシピサポート
翻訳サービス
オペレーター派遣
会社情報
日本電子について
社会貢献活動
SDGsへの取り組み
環境への取り組み
オープンイノベーション
健康経営への取り組み
株主・投資家の皆様へ
ニュース
イベント関連
採用情報
新卒採用
キャリア採用
派遣登録
製品情報
透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 (TEM)
透過電子顕微鏡周辺機器
核磁気共鳴装置
核磁気共鳴装置 (NMR)
電子スピン共鳴装置 (ESR)
半導体製造装置
電子ビーム描画装置
走査電子顕微鏡 (SEM)
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡周辺機器
計測機器
その他装置
(X線CT微細構造解析システム、顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
3Dプリンター
電子ビーム金属3Dプリンター（AM）
イオンビーム応用装置
断面試料作製装置 (CP)
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
X線分析装置
蛍光X線分析装置
(卓上)
成膜関連機器・材料生成機器
成膜関連機器
(電子銃・プラズマ源・他)
材料生成機器
(ナノ粒子合成／ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)
微小領域分析・表面分析装置
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)
オージェマイクロプローブ (Auger)
光電子分光装置 (XPS、ESCA)
質量分析計
極微量物質定量解析システム
JMS-Q1600GC QuantAnalyzer
マルチイオン化-未知物質解析システム
JMS-T2000GC MultiAnalyzer
GC-MS、Gas Analysis MS
LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS
質量分析計周辺機器 / ソフトウェア
自動分析装置
生化学自動分析装置
アプリケーションノート
基礎研究
教育
医学・生物
化学
電池・エネルギー
環境・アスベスト
自動車
半導体・電子部品
食品
薬品
ゴム・プラスチック
ガラス・セラミクス・セメント
金属
製品グループから探す
サービス&ソリューション
サービス
サポートプラン
（パーコール・オーバーホール）
保守契約
リユース事業
レンタルのご紹介
安全にお使いいただくために
災害時のマニュアル
アップグレード
販売を終了した製品
安全データシート（SDS）
サービスサポート
ソリューション
設置環境対策
受託分析
講習
サブスクリプションサービス「JEOL-rento」
ブリッジングサービス
ステップアップサービス
シェアリングサービス
翻訳サービス
オペレーター派遣
会社概要
日本電子について
環境への取り組み
株主・投資家の皆様へ
社会貢献活動
オープンイノベーション
SDGsへの取り組み
健康経営への取り組み
イベント関連
ニュース
採用情報
新卒採用
キャリア採用
派遣登録
トップ
用語集
透過電子顕微鏡 基本用語集
検索条件 頭文字「
け げ
」
検索条件 頭文字「
け げ
」
28
件
見つかりました
蛍光
蛍光収率
蛍光板
蛍光励起効果
計数率
系統反射
結晶構造
結晶構造因子
結晶構造像
結晶構造解析
結晶成長
結晶場分裂
結晶方位
結像レンズ系
検出限界
検出効率
検出立体角
検出量子効率
研磨
検量線
k 因子
ケーラー照明(ケーラー照射)
原子形状因子
原子散乱因子
原子番号効果
原子面
減衰
元素マッピング
キーワード・頭文字検索
KEYWORD / CAP SEARCH
キーワードから探す
キーワードを入力してください。
検索する
頭文字から探す
あ
い
う
え
お
か
き
く
け
こ
さ
し
す
せ
そ
た
ち
つ
て
と
な
に
ぬ
ね
の
は
ひ
ふ
へ
ほ
ま
み
む
め
も
や
ゆ
よ
ら
り
る
れ
ろ
わ
を
ん
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
数字・記号
基本用語集
GLOSSARY OF TERMS
透過電子顕微鏡 基本用語集
走査電子顕微鏡 基本用語集
核磁気共鳴装置 用語集
科学技術論文 動詞集
Glossary of TEM Terms
Glossary of SEM Terms
