• アクセス
  • お問い合わせ
  • GLOBAL SITE
  • メールマガジン
JEOL 日本電子株式会社
  • 製品情報 PRODUCTS
  • アプリケーションノート APPLICATIONS NOTES
  • サービス&ソリューション SERVICE & SOLUTION
  • 会社情報 ABOUT US
  • 採用情報 RECRUIT
製品情報
  • 透過電子顕微鏡
    • 透過電子顕微鏡 (TEM)
    • 透過電子顕微鏡周辺機器
    走査電子顕微鏡
    • 走査電子顕微鏡 (SEM)
    • 走査電子顕微鏡周辺機器
    イオンビーム応用装置
    • 断面試料作製装置 (CP)
    • 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
    微小領域分析・表面分析装置
    • 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)
    • オージェマイクロプローブ (Auger)
    • 光電子分光装置 (XPS、ESCA)
  • 磁気共鳴装置
    • 核磁気共鳴装置 (NMR)
    • 電子スピン共鳴装置 (ESR)
    計測機器
    • その他装置
      (XtaLAB Synergy-ED、X線CT微細構造解析システム、
      顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
    X線分析装置
    • 蛍光X線分析装置 (卓上)
    質量分析計
    • 極微量物質定量解析システム
      JMS-Q1600GC QuantAnalyzer
    • マルチイオン化-未知物質解析システム
      JMS-T2000GC MultiAnalyzer
    • GC-MS、Gas Analysis MS
    • LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS
    • 質量分析計周辺機器 / ソフトウェア
  • 半導体製造装置
    • 電子ビーム描画装置
    3Dプリンター
    • 電子ビーム金属3Dプリンター(AM)
    成膜関連機器・材料生成機器
    • 成膜関連機器
      (電子銃・プラズマ源・他)
    • 材料生成機器
      (ナノ粒子合成/ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)
    自動分析装置
    • 生化学自動分析装置
JEOL STATION
アプリケーションノート
  • 基礎研究 化学 自動車 薬品 ガラス・セラミクス・セメント
  • 教育 電池・エネルギー 半導体・電子部品 ゴム・プラスチック
  • 医学・生物 環境・アスベスト 食品 金属
製品グループから探す JEOL STATION
サービス&ソリューション
  • サービス
    • サポートプラン(パーコール・オーバーホール)
    • 保守契約
    • リユース事業
    • レンタルのご紹介
    • 安全にお使いいただくために
    • アップグレード
    • サービスサポート
    • 災害時の対応マニュアル
    • 販売を終了した製品
    • 安全データシート(SDS)
  • ソリューション
    • 設置環境対策
    • 受託分析
    • 講習
    • サブスクリプションサービス「JEOL-rento」
    • ブリッジングサービス
    • ステップアップサービス
    • シェアリングサービス
    • CPレシピサポート
    • 翻訳サービス
    • オペレーター派遣
お問い合わせ JEOL STATION
会社情報
  • 日本電子について 社会貢献活動 SDGsへの取り組み
  • 環境への取り組み オープンイノベーション 健康経営への取り組み
  • 株主・投資家の皆様へ ニュース イベント関連
JEOL STATION
採用情報
  • 新卒採用
  • キャリア採用
  • 派遣登録
JEOL STATION
JEOL 日本電子株式会社
製品情報
  • 透過電子顕微鏡
    • 透過電子顕微鏡 (TEM)
    • 透過電子顕微鏡周辺機器
  • 核磁気共鳴装置
    • 核磁気共鳴装置 (NMR)
    • 電子スピン共鳴装置 (ESR)
  • 半導体製造装置
    • 電子ビーム描画装置
  • 走査電子顕微鏡 (SEM)
    • 走査電子顕微鏡
    • 走査電子顕微鏡周辺機器
  • 計測機器
    • その他装置
      (X線CT微細構造解析システム、顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
  • 3Dプリンター
    • 電子ビーム金属3Dプリンター(AM)
  • イオンビーム応用装置
    • 断面試料作製装置 (CP)
    • 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
  • X線分析装置
    • 蛍光X線分析装置 (卓上)
  • 成膜関連機器・材料生成機器
    • 成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)
    • 材料生成機器
      (ナノ粒子合成/ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)
  • 微小領域分析・表面分析装置
    • 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)
    • オージェマイクロプローブ (Auger)
    • 光電子分光装置 (XPS、ESCA)
  • 質量分析計
    • 極微量物質定量解析システム
      JMS-Q1600GC QuantAnalyzer
    • マルチイオン化-未知物質解析システム
      JMS-T2000GC MultiAnalyzer
    • GC-MS、Gas Analysis MS
    • LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS
    • 質量分析計周辺機器 / ソフトウェア
  • 自動分析装置
    • 生化学自動分析装置
アプリケーションノート
  • 基礎研究
  • 教育
  • 医学・生物
  • 化学
  • 電池・エネルギー
  • 環境・アスベスト
  • 自動車
  • 半導体・電子部品
  • 食品
  • 薬品
  • ゴム・プラスチック
  • ガラス・セラミクス・セメント
  • 金属
  • 製品グループから探す
サービス&ソリューション
  • サービス
    • サポートプラン (パーコール・オーバーホール)
    • 保守契約
    • リユース事業
    • レンタルのご紹介
    • 安全にお使いいただくために
    • 災害時のマニュアル
    • アップグレード
    • 販売を終了した製品
    • 安全データシート(SDS)
    • サービスサポート
  • ソリューション
    • 設置環境対策
    • 受託分析
    • 講習
    • サブスクリプションサービス「JEOL-rento」
    • ブリッジングサービス
    • ステップアップサービス
    • シェアリングサービス
    • 翻訳サービス
    • オペレーター派遣
会社概要
  • 日本電子について
  • 環境への取り組み
  • 株主・投資家の皆様へ
  • 社会貢献活動
  • オープンイノベーション
  • SDGsへの取り組み
  • 健康経営への取り組み
  • イベント関連
  • ニュース
採用情報
  • 新卒採用
  • キャリア採用
  • 派遣登録
JEOL STATION
  • トップ
  • 用語集
  • 透過電子顕微鏡 基本用語集
  • 検索条件 頭文字「け げ」

検索条件 頭文字「け げ」

28件見つかりました

  • 蛍光
  • 蛍光収率
  • 蛍光板
  • 蛍光励起効果
  • 計数率
  • 系統反射
  • 結晶構造
  • 結晶構造因子
  • 結晶構造像
  • 結晶構造解析
  • 結晶成長
  • 結晶場分裂
  • 結晶方位
  • 結像レンズ系
  • 検出限界
  • 検出効率
  • 検出立体角
  • 検出量子効率
  • 研磨
  • 検量線
  • k 因子
  • ケーラー照明(ケーラー照射)
  • 原子形状因子
  • 原子散乱因子
  • 原子番号効果
  • 原子面
  • 減衰
  • 元素マッピング

キーワード・頭文字検索 KEYWORD / CAP SEARCH

キーワードから探す

キーワードを入力してください。

頭文字から探す

  • あ
  • い
  • う
  • え
  • お
  • か
  • き
  • く
  • け
  • こ
  • さ
  • し
  • す
  • せ
  • そ
  • た
  • ち
  • つ
  • て
  • と
  • な
  • に
  • ぬ
  • ね
  • の
  • は
  • ひ
  • ふ
  • へ
  • ほ
  • ま
  • み
  • む
  • め
  • も
  • や
  • ゆ
  • よ
  • ら
  • り
  • る
  • れ
  • ろ
  • わ
  • を
  • ん
  • A
  • B
  • C
  • D
  • E
  • F
  • G
  • H
  • I
  • J
  • K
  • L
  • M
  • N
  • O
  • P
  • Q
  • R
  • S
  • T
  • U
  • V
  • W
  • X
  • Y
  • Z
  • 数字・記号

基本用語集 GLOSSARY OF TERMS

  • 透過電子顕微鏡 基本用語集
  • 走査電子顕微鏡 基本用語集
  • 核磁気共鳴装置 用語集
  • 科学技術論文 動詞集
  • Glossary of TEM Terms
  • Glossary of SEM Terms
  • YOUTUBE
  • facebook
  • twitter
  • Linkedin
  • twitter
製品情報
  • 製品情報TOP
  • 新製品一覧
  • 型式一覧
  • カタログダウンロード
  • お薦め消耗品
  • キャンペーン
  • Interview
  • 導入事例
  • 開発秘話
  • 用語集
アプリケーションノート
  • アプリケーションノートTOP
  • 定期刊行物
    • JEOL NEWS
      日本電子ニュース
    • ソリューションニュース
  • YOKOGUSHI
  • 販売終了製品のアプリケーション
  • やさしい科学
  • JEOL STATION
サービス&ソリューション
  • サービス&ソリューションTOP
  • 受託分析
  • サブスクリプションサービス「JEOL-rento」
  • ブリッジングサービス
  • ステップアップサービス
  • シェアリングサービス
  • 講習
  • 設置環境対策
  • 保守契約
  • アップグレード
  • サポートプラン
  • リユース事業のご案内
  • レンタルのご紹介
  • 販売を終了した製品
  • 安全データシート(SDS)
  • サービスサポートのご案内
  • お問い合わせ
会社概要
  • 会社概要TOP
  • 日本電子について
  • 環境への取り組み
  • 株主・投資家の皆様へ
  • 社会貢献活動
  • オープンイノベーション
  • SDGsへの取り組み
  • 健康経営への取り組み
  • イベント関連
    • イベント・展示会
    • セミナー・ウェビナー
    • 過去の動画一覧
    • 講習
採用情報
  • 採用情報TOP
  • 新卒採用
  • キャリア採用
  • 派遣登録
JEOL
プライバシーポリシー ご利用にあたって ソーシャルメディア サイトマップ Copyright © 1996-2022 JEOL Ltd. All Rights Reserved.