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  • シリアルブロックフェイス走査電子顕微鏡法

    Serial Block Face Scanning Electron Microscopy

    [目次:観察手法]

    SEMを用いて試料内部の構造を三次元再構築する手法の一つ。主に、樹脂包埋した生物試料や高分子材料といったソフトマテリアルに対して用いられる。SEMの試料室内に組み込んだウルトラミクロトームによってブロック試料の表面を数十から200 nm程度の厚さで切削し、現れた面のSEM観察を行う。切削と観察を繰り返し行い、深さ方向に二次元像を数十枚から数千枚取得する。それらの像を積み重ねることで三次元像を再構築する。

    A method to reconstruct the three-dimensional (3D) structure of a block specimen using an SEM. This method is mainly used for soft materials such as resin-embedded biological materials and macro-molecule materials. The surface of such a block specimen is sliced off with a thickness of about several 10 nm to 200 nm using an ultra-microtome incorporated in the SEM specimen chamber. Then, the face exposed by slicing is observed and its serially-sliced images are recorded with the SEM. The slicing and SEM recording are repeated serially several tenth to several thousand times. By stacking those images, the 3D structure of the block specimen is obtained.

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