Close Btn

Select Your Regional site

Close

カタログダウンロード

製品別のPDFカタログをダウンロードいただけます。
カタログをご覧になられたい方は、ダウンロードしたいカタログの表紙をクリックしていただきますと、PDFにてご覧いただけます。
時間帯・ネットワークの混み具合により、ダウンロードにお時間を頂く場合がございます。

会社案内

会社案内

会社案内(登録不要)

日本電子ニュース

日本電子news Vol.55 No.1, 2023

日本電子news Vol.55 No.1, 2023

製品案内 / 周辺機器

製品案内

製品案内(登録不要)

電子顕微鏡関連周辺機器

電子顕微鏡関連周辺機器

透過電子顕微鏡 (TEM)

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

JEM-F200 多機能電子顕微鏡

JEM-F200 多機能電子顕微鏡

JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡

JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡

JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡

JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡

JEM-1400Flash 電子顕微鏡

JEM-1400Flash 電子顕微鏡

オプション (TEM)

遠隔操作システムのご案内

遠隔操作システムのご案内

SightSKY Camera EM-04500SKY 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOS カメラ

SightSKY Camera EM-04500SKY 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOS カメラ

OBF System

OBF System

TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正

TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ

SAAF Octa 分割型検出器(8分割型)

SAAF Octa 分割型検出器(8分割型)

4DCanvas™ ピクセル型STEM検出器

4DCanvas™ ピクセル型STEM検出器

Sin Window Chip

Sin Window Chip

IDES社 製品 (TEM)

IDES社 製品カタログ

IDES社 製品カタログ

走査電子顕微鏡 (SEM)

SEMシリーズ

  • 走査電子顕微鏡の最新機種を全て掲載しています。

SEMシリーズ

SEMシリーズ

FE-SEM

JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(i)/(is) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(i)/(is) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

オプション (FE-SEM)

Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS

Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

SM-92100EUVC エキシマUVクリーナー

SM-92100EUVC エキシマUVクリーナー

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 FE-SEM

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 FE-SEM

miXcroscopy 光学顕微鏡 / 走査電子顕微鏡リンクシステム

miXcroscopy 光学顕微鏡 / 走査電子顕微鏡リンクシステム

OM-SEMリンクシステム (miXcroscopy(TM)シリーズ)

OM-SEMリンクシステム (miXcroscopy(TM)シリーズ)

SEMによる アレイトモグラフィー法

SEMによる アレイトモグラフィー法

汎用SEM

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

オプション (汎用SEM)

JSM-IT200用EDS ドライSD™60検出器

JSM-IT200用EDS ドライSD™60検出器

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT200

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT200

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT700HR

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT700HR

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-6610シリーズ

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-6610シリーズ

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

イオンビーム応用装置 (FIB、CP)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

オプション (FIB)

OmniProbe350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

OmniProbe350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING

イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS

イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS

断面試料作製装置 (CP)

IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム

IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム

IB-19520CCP 断面試料作製装置

IB-19520CCP 断面試料作製装置

IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置

IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置

オプション (CP)

クロスセクションポリッシャ™位置合わせ顕微鏡

クロスセクションポリッシャ™位置合わせ顕微鏡

微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA)

  • EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ JXA-iSP100 タングステン/LaB<sub>6</sub>電子プローブマイクロアナライザ

JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iSP100 タングステン/LaB6電子プローブマイクロアナライザ

オプション (EPMA)

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

EPMA-XRFインテグレーションシステム

EPMA-XRFインテグレーションシステム

電子プローブマイクロアナライザー用試料ホルダーおよび消耗品 JXA-iSP100 / JXA-iHP200F

電子プローブマイクロアナライザー用試料ホルダーおよび消耗品 JXA-iSP100 / JXA-iHP200F

オージェマイクロプローブ (Auger)

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

オプション (Auger)

Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F

Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F

光電子分光装置 (XPS、ESCA)

JPS-9030 光電子分光装置

JPS-9030 光電子分光装置

核磁気共鳴装置 (NMR)

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZRシリーズ) NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZRシリーズ) NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZSシリーズ) NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZSシリーズ) NMR装置

Solid State NMR

Solid State NMR

NMR用冷媒蒸発抑制装置

NMR用冷媒蒸発抑制装置

NR50 (NMR用液体窒素抑制装置)

NR50 (NMR用液体窒素抑制装置)

NS20WJ (NMR用液体窒素供給装置)

NS20WJ (NMR用液体窒素供給装置)

ROYALプローブ™ HFX

ROYALプローブ™ HFX

ハイスループット固体NMR

ハイスループット固体NMR

NMRデータ処理ソフト Delta NMR Software for Processing

NMRデータ処理ソフト Delta NMR Software for Processing

JASONソフトウェア

JASONソフトウェア

JEOL NMR 遠隔操作環境構築例の紹介

JEOL NMR 遠隔操作環境構築例の紹介

JEOL NMR のデータインテグリティ対応

JEOL NMR のデータインテグリティ対応

NMRで、できること

NMRで、できること

NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR

NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR

分析結果の信頼性は確保されていますか?

分析結果の信頼性は確保されていますか?

電子スピン共鳴装置 (ESR)

JES-X3 シリーズ ESR装置

JES-X3 シリーズ ESR装置

オプション (ESR)

電子スピン共鳴装置 (ESR) JES-X3シリーズ アタッチメント

電子スピン共鳴装置 (ESR) JES-X3シリーズ アタッチメント

ES-13070VT400 温度可変装置

ES-13070VT400 温度可変装置

ESR入門

ESR入門

蛍光X線分析装置 (XRF)

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

オプション (XRF)

低真空液体試料カプセル

低真空液体試料カプセル

低真空液体カプセル

低真空液体カプセル

異物分析用共通ホルダー

異物分析用共通ホルダー

パーツカタログ エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

パーツカタログ エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

質量分析計 (MS)

GC-MS, Gas Analysis MS

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

JMS-TQ4000GC ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計

JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計

JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計

JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計

JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計

JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計

オプション (GC-MS, Gas Analysis MS)

HS/GC/MS モニタリングシステム

HS/GC/MS モニタリングシステム

msFineAnalysis AI 未知物質構造解析ソフトウェア

msFineAnalysis AI 未知物質構造解析ソフトウェア

msFineAnalysis シリーズ GC-MS 統合定性解析ソフトウェア

msFineAnalysis シリーズ GC-MS 統合定性解析ソフトウェア

TQ-DioK ダイオキシン分析プログラム

TQ-DioK ダイオキシン分析プログラム

ヘッドスペースオートサンプラー MS-62071STRAP HS

ヘッドスペースオートサンプラー MS-62071STRAP HS

究極の熱分析ツール TG-TOFMS

究極の熱分析ツール TG-TOFMS

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum and Petrochemical Solutions (英語版)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum and Petrochemical Solutions (英語版)

Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications (英語版)

Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications (英語版)

Gas analysis ガス分析ソリューション

Gas analysis ガス分析ソリューション

LC-MS (DART-MS) 、MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大気圧イオン化飛行時間質量分析計

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大気圧イオン化飛行時間質量分析計

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

オプション (LC-MS (DART-MS) 、MALDI-TOFMS)

msRepeatFinder ポリマー解析用ソフトウェア

msRepeatFinder ポリマー解析用ソフトウェア

MALDI-TOFMS イメージングシステム 日本電子×SCiLS

MALDI-TOFMS イメージングシステム 日本電子×SCiLS

JeoQuant 質量分析法によるビタミンD代謝物4分画測定キット

JeoQuant 質量分析法によるビタミンD代謝物4分画測定キット

LC-MS/MS受託サービスのご案内

LC-MS/MS受託サービスのご案内

NMR用試料溶液をそのまま精密質量MS測定!

NMR用試料溶液をそのまま精密質量MS測定!

MSガイドブック

高分子材料分析 ガイドブック

高分子材料分析 ガイドブック

知って活用!!GC-MS ガイドブック

知って活用!!GC-MS ガイドブック

JEOL GC-MS 前処理法ガイドブック

JEOL GC-MS 前処理法ガイドブック

イオン化法ガイドブック

イオン化法ガイドブック

イオン化法ガイドブック 2

イオン化法ガイドブック 2

計測機器

極微小単結晶構造解析プラットフォーム XtaLAB Synergy-ED

極微小単結晶構造解析プラットフォーム XtaLAB Synergy-ED

μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)

μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)

μCT50 X線マイクロCT装置

μCT50 X線マイクロCT装置

GC-8610T/310C ポータブルGCシリーズ

GC-8610T/310C ポータブルガスクロマトグラフシリーズ

半導体製造装置

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

電子ビーム金属3Dプリンター (AM)

JEOL Additive Manufacturing New Technical Information

JEOL Additive Manufacturing New Technical Information

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

成膜関連機器・材料生成機器

JEOL産業機器総合カタログ

JEOL産業機器総合カタログ

成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)

BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源

BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源

BS-60310BDS ボンバード蒸着源

BS-60310BDS ボンバード蒸着源

BS-60610BDS ボンバード蒸着源

BS-60610BDS ボンバード蒸着源

研究開発用 電子ビーム蒸着装置

研究開発用 電子ビーム蒸着装置

BS-60250DEM 電子銃

BS-60250DEM 電子銃

BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源

BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源

BS-04 シリーズ ロータリーセンサー

BS-04 シリーズ ロータリーセンサー

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

RF-120シリーズ 高周波電源

RF-120シリーズ 高周波電源

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

材料生成機器 (ナノ粒子合成/ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)

高周波誘導熱プラズマ装置

高周波誘導熱プラズマ装置

TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置

TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

BS-EBM シリーズ 多目的電子ビーム溶解炉

BS-EBM シリーズ 多目的電子ビーム溶解炉

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

YOKOGUSHI

SEMバイオ写真集

SEMバイオ写真集

陽極酸化皮膜

陽極酸化皮膜

Foodnote 食品分析ソリューション

Foodnote 食品分析ソリューション

食品分析ソリューション②

食品分析ソリューション②

BatteryNote バッテリーノート

BatteryNote バッテリーノート

LIBnote リチウムイオンバッテリーノート

LIBnote リチウムイオンバッテリーノート

Solid-State Battery Note

Solid-State Battery Note

車載電池製造ラインの環境検査 異物の全自動粒子検査システム

車載電池製造ラインの環境検査 異物の全自動粒子検査システム

Bionote バイオソリューション

Bionote バイオソリューション

Polymernote ポリマーノート

Polymernote ポリマーノート

CryoNote

CryoNote

UrushiNote 漆で学ぶ高分子材料分析

UrushiNote 漆で学ぶ高分子材料分析

CLEMnote Correlative Light and Electron Microscopy note

CLEMnote Correlative Light and Electron Microscopy note

設置環境対策

最先端理科学機器のための設置環境技術

最先端理科学機器のための設置環境技術(登録不要)

磁場対策のご案内

磁場対策のご案内(登録不要)

振動対策のご案内

振動対策のご案内(登録不要)

温度変動対策のご案内

温度変動対策のご案内(登録不要)

ラボ環境コンサルティングのご案内

ラボ環境コンサルティングのご案内(登録不要)

関連製品 (設置環境対策)

EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム

EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム(登録不要)

TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム

TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム(登録不要)

耐震ゲルマット付き装置固定金具「J-mat」

耐震ゲルマット付き装置固定金具「J-mat」(登録不要)

保守契約

保守契約のご案内

保守契約のご案内(登録不要)

講習

講習コースのご案内

講習コースのご案内(登録不要)

ステップアップサービス

ステップアップサービスのご案内

ブリッジングサービス

ブリッジングサービスのご案内

受託分析

受託分析のご案内 (顕微鏡関連)

受託分析のご案内 (顕微鏡関連)(登録不要)

受託分析のご案内

受託分析のご案内(登録不要)

MSとNMRメーカーの 日本電子の受託分析をご存知ですか?

MSとNMRメーカーの 日本電子の受託分析をご存知ですか?(登録不要)

高分解能μCTによる3D受託分析のご提案

高分解能μCTによる3D受託分析のご提案(登録不要)

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)(登録不要)

シェアリングサービス

分析機器もシェアリングサービスへ

分析機器もシェアリングサービスへ(登録不要)

シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex

シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex(登録不要)

シェアリングサービス 核磁気共鳴装置

シェアリングサービス 核磁気共鳴装置(登録不要)

分析装置サブスクリプションサービス (JEOL-rento)

JEOL-rento

JEOL-rento

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)

お問い合わせ

日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。