生産終了製品
透過電子顕微鏡 (TEM)
TEM周辺機器
走査電子顕微鏡 (SEM)
SEM周辺機器
断面試料作製装置 (CP)
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
オージェマイクロプローブ (Auger)
光電子分光装置 (XPS／ESCA)
蛍光X線分析装置 (卓上)
走査形プローブ顕微鏡 (SPM)
その他装置
核磁気共鳴装置 (NMR)
NMR周辺機器
電子スピン共鳴装置 (ESR)
GC-MS
LC-MS (DART-MS)
MALDI-TOFMS
GC-MS用前処理装置
欠陥レビュー走査電子顕微鏡 (WS)
電子ビーム描画装置 (可変／スポット)
成膜関連機器 (電子銃／プラズマ源／他)
材料生成機器 (ナノ粒子合成／ナノ粒子表面改質、電子ビーム溶解)
生化学自動分析装置
検体ラックハンドラー
全自動アミノ酸分析機
TECHNOLOGY / CASE STUDY 技術・事例
インタビュー、導入事例、開発秘話の形式で、ユーザーの皆様からいただいた声をご紹介します。現在の課題について解決のヒントが得られるかもしれません。ぜひ、ご覧ください。
お問い合わせ
日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。