電子顕微鏡総合 | 製品情報 | JEOL 日本電子株式会社

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世界の科学の進歩と社会の発展に貢献してきた日本電子のDNA

電子顕微鏡の開発を起源に持つ日本電子は、透過電子顕微鏡 (TEM)をはじめ、走査電子顕微鏡 (SEM) 、電子ビームやイオンビーム、X線などの技術を応用した装置を幅広く展開しています。

製品の最新情報

製品一覧

透過電子顕微鏡 (TEM)

透過電子顕微鏡 (TEM)

原子レベルの高分解能観察や構造解析、微小部の元素分析が可能です。

透過電子顕微鏡 (TEM)

透過電子顕微鏡周辺機器

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)

主に表面構造の観察、元素分析を行うことができます。

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡周辺機器

イオンビーム応用装置

イオンビーム応用装置

断面試料を作製します。観察や分析ができる機種やアタッチメントもあります。

断面試料作製装置 (CP)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

微小領域・表面分析装置

微小領域・表面分析装置

微小領域や物質の表面に含まれる元素の詳細な状態などを解析します。

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

オージェマイクロプローブ (Auger)

光電子分光装置 (XPS、ESCA)

X線分析装置

X線分析装置

固体・粉末・液体・薄膜など様々な試料を標準試料なしで元素の種類や含有量を調べる装置です。

蛍光X線分析装置 (卓上)

計測機器

計測機器

電子回析装置を紹介します。

その他装置(XtaLAB Synergy-ED、X線CT微細構造解析システム、顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)

分野別ソリューション

半導体

半導体

半導体・電子部品

電機・電子部品

電池

資源・エネルギー

資源・エネルギー

自動車

自動車

鉄鋼

非鉄・金属

非鉄・金属

化学

プラスチック・高分子

プラスチック・高分子

ガラス・セラミック

ガラス・セラミック

病院・病理

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生物・生命科学

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医薬品・化粧品

医薬品

食品・植物

食品・植物

環境

防衛・航空宇宙

防衛・航空宇宙

その他

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最新のセミナー / ウェビナー

分析事例を交えた最新の技術情報を講義形式でお伝えします。

過去の動画(ウェビナー一覧)

過去開催したウェビナー(WEBセミナー)録画のライブラリーを公開しております。

YOKOGUSHI

「YOKOGUSHI」をキーワードに機能的な評価フローの提案を目指してまいります。

やさしい科学

主なJEOL製品の仕組みや応用について、わかりやすく解説しています。

用語集

基本用語をまとめました。

微細な世界

走査電子顕微鏡・透過電子顕微鏡で観察した鮮明な画像をご紹介しています。

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日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。

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