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High Power Optics採用によるナノ構造解析FE SEM

High Power Opticsにより、最大200nAという余裕の大電流が得られ、電子線のエネルギーを低くして大電流を取った場合でも小さいプローブ径が得られます。表面のNano-Structures観察と、数10nm領域のEDS分析が可能です。
電子銃は完全自動化されており、容易に最適条件の設定ができます。対物レンズ絞りは、最小絞りのまま高倍率観察からEDS分析、EBSD解析が可能です。コンピュータコントロールのユーセントリック大形試料ステージと、シンプルな操作画面上に表示される高精細デジタルライブ像が快適な操作を約束します。

仕様・オプション

分解能 1.2nm
加速電圧 0.5~30kV
倍率 ×10~500,000
試料寸法 150mmφ
試料移動 X方向:70mm Y方向:50mm
(モータ駆動/手動可能)
Z方向:3~41mm、傾斜:-5゜~70°
回転:360°エンドレス(モータ駆動)

アプリケーション

JSM-7000Fに関するアプリケーション

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