その場観察用ホルダは、TEM内部のナノ構造での電気的・機械的探索を可能にし、動態過程の研究用に最適化することができます。対象物の特徴付け、探索、画像表示は勿論のこと、プローブをサブナノメーターの精度でナノ構造の導体、半導体あるいは絶縁体領域へ配置、整列することを簡単にします。
特長
STM-TEM STMその場観察用ホルダ
TEM試料ホルダに装備されたSTM機能により、ナノ構造上の特定場所での電気的特性をサブナノメーターの精度で測定できます。また、バイアス変調はもちろん、STM画像、STSコンタクト電流測定、電界スペクトル分析などの測定ができます。
TEM-AFM AFMその場観察用ホルダ
TEM-AFMはTEMのホルダに搭載された完全なAFMです。TEM-AFMを使用することで原子間力測定の新しい次元が得られます。
仕様・オプション
STM-TM™ 仕様
| 最大電流範囲 | 0-5mA |
|---|---|
| 試料サイズ-標準グリッド | 3mmφ |
| 走査範囲 | 25・N×25・N |
| 粗動範囲（X,Y） | (2mm, 2ｍｍ） |
| ピエゾ分解能 X,Y | 0.02nm |
| ピエゾ分解能 Z | 0.0025nm |
| 最大バイアス範囲 | ±10V |
| 試料サイズ-線経 | 0.25mm |
| Z範囲 | 2.5・N |
| 粗動範囲 | 2mm |
操作モード：コンタクト、トンネル、電界放射（バイアス±140V）
ホルダーはTEMの全モデルに適合
外観・仕様は改良などのため変更されることがあります。
TEM-AFM™仕様
| 可動負荷範囲 | 0～2000ｎN |
|---|---|
| 試料サイズ-標準グリッド | 3ｍｍφ |
| 走査範囲 | 25μm×25μm |
| 粗動範囲（X,Y） | (2mm, 2ｍｍ） |
| ピエゾ分解能 X,Y | 0.02nm |
| ピエゾ分解能 Z | 0.0025nm |
| フォース感度 | 10ｎN |
| 試料サイズ-線径 | 0.25mm |
| Z範囲 | 2.5μm |
| 粗動範囲（Z） | 2mm |
AFM測定モード：コンタクトモード
AFMラテラル分解能：15nm以下
ホルダーはTEMの全モデルに適合
外観・仕様は改良などのため変更されることがあります。
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