走査電子顕微鏡 (SEM)
生物から材料試料まで、
観察から各種分析まであらゆるご要望に対応いたします
走査電子顕微鏡は、試料の形状から微細構造まで、様々な形態観察に適しています。
各種測定装置と組み合わせる事で「元素分析」「結晶性の分析」など様々な観察と分析が可能です。
また、断面作製装置など各種試料作製装置と組み合わせる事で、断面の観察・分析や、低真空SEMやクライオSEM等により、含水試料の直接観察も可能です。
主要装置
高分解能走査電子顕微鏡
低真空走査電子顕微鏡
クライオ走査電子顕微鏡
分析例
エネルギー分散型X線分析装置 (EDS)
後方散乱電子解析 (EBSD)
軟X線
分析例
実績試料
生物一般組織
バクテリア
酵母
カビ
植物
毛髪
羊毛
昆虫
食品(パン・うどん・豆腐・米・精肉・卵・乳製品等)
医薬品
化粧品(リンス・石鹸・クリーム・乳液・マスカラ等)
金属
高分子材料(ゴム・プラスチック・フィルム)
機械部品
電子部品
紙
粉体材料
ガラス
セラミック
観察手法
通常SEM観察
クライオSEM観察
低真空観察
低真空クライオ観察
無蒸着高倍観察
断面観察
EDS分析
EBSD分析
CL
EBICによるIC故障解析
走査顕微鏡内過熱温度観察(500°Cまで)
日本電子のご提案
TEMやSEM、FIBによる局所的な詳細観察に、µCTによる広範囲な構造の把握、材料の質の解析を加えることで、詳細観察において、情報量のUPや前処理工程の削減に繋がります。
電子顕微鏡関係
科学・計測機器サービス事業部
受託グループ
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