製品紹介

TOTAL SOLUTIONS

原子レベル評価

TEM 透過電子顕微鏡
TEM透過電子顕微鏡
原子レベルでの変化を直接観察・分析できる装置です。
より詳細なメカニズムの解析が期待できます。
1次粒子のSTEM像

>>充放電後

1次粒子のSTEM像
粒子表面の原子分解能STEM像とEDS分析

>>充放電前

粒子表面の原子分解能STEM像とEDS分析 充放電前

>>充放電後

粒子表面の原子分解能STEM像とEDS分析 充放電後
粒子表面/内部の電子回折

 

粒子表面/内部の電子回折

形状観察・評価

FE-SEM 走査電子顕微鏡
FE-SEM走査電子顕微鏡
正極材の充放電前後の含有元素を短時間で定性・定量分析ができます。
また、一般的な定性定量分析(FP法・検量線法)やRoHS元素のスクリー
ニング機能を備えています。
セパレータにおける
劣化前後の表面形状変化をSEM観察

電池劣化前

セパレータにおける劣化前後の表面形状変化をSEM観察 電池劣化前

セ電池劣化後

セパレータにおける劣化前後の表面形状変化をSEM観察  電池劣化後
導電処理なしで
絶縁物である活物質の形状観察・元素分析

正極活物質NMC表面(左)と断面(右)の形状観察

正極活物質NMC表面(左)と断面(右)の形状観察

正極活物質NMC断面の元素分析(EDS/MAP)

正極活物質NMC断面の元素分析(EDS/MAP)

電解液・有機材料の
化合物同定

MS 質量分析計
MS質量分析計
電池材料に使用される有機成分や劣化過程で発生する微量の有機化合物など
気体・液体・固体を問わず、確度の高い化合物同定や濃度変化の解析が可能です。
重水素化体(EC-d4)を使用した電解液(EC:DMC=3:7)の劣化解析例
重水素化体(EC-d4)を使用した電解液(EC:DMC=3:7)の劣化解析例

表面変質評価

XRF X線分析装置
XRFX線分析装置
正極材の充放電前後の含有元素を短時間で定性・定量分析ができます。
また、一般的な定性定量分析(FP法・検量線法)やRoHS元素のスクリー
ニング機能を備えています。
正極活物質NMCの表面変質を評価するため深さ方向におけるNi、Mn、Coの変化を分析

正極活物質NMCの使用前後の分析

正極活物質NMCの使用前後の分析

XRFとAESで得られたNi,Mn,Co比の比較

XRFとAESで得られたNi,Mn,Co比の比較
AES オージェ電子分光分析
AESオージェ電子分光分析
ナノレベルの化学状態分析を実現する表面分a析装置の最高峰。Liを含
む全ての元素マッピングが可能であるため、元素濃度分布をマクロか
らミクロ領域まで解析可能です。
高温保存試験後正極材表面の分析(DEC洗浄なし)

劣化後正極材NMC表面における副生成物の面分析結果(EDS/MAP)

劣化後正極材NMC表面における副生成物の面分析結果(EDS/MAP)

反射EELS法によるLiの吸収スペクトル

反射EELS法によるLiの吸収スペクトル

反射EELS法によるLiの吸収スペクトルには、充放電前後の活物質表面のLiの量や化学状態の変化の情報が含まれています。ピーク強度からLiの増減が得られます。

遷移金属の状態分析

SXES 軟X線分光器
SXES軟X線分光器
正極活物質などの化学状態分析についてバルク情報を軟X線領域の
発光スペクトルから多元素を同時に高エネルギー分解能で分析することが特長です。
軟X線分光法とオージェ電子分光法による化学状態分析
重水素化体(EC-d4)を使用した電解液(EC:DMC=3:7)の劣化解析例

化学状態分析

SXES 軟X線分光器
NMR核磁気共鳴装置
電極や電解質中における、リチウムの化学構造・状態を調べることが
できるため、電池反応や劣化挙動の解析が可能です。
超高速MAS固体NMRによる正極活物質LiMn2O4の劣化前後の7Liスペクトル
超高速MAS固体NMRによる正極活物質LiMn2O4の劣化前後の7Liスペクトル