集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
イオンビームにより試料を観察しながら、高速かつ精密に加工します。自動加工による透過電子顕微鏡 (TEM) 試料の作成や、三次元解析が可能です。
走査電子顕微鏡 (SEM) を搭載した複合ビーム加工観察装置なら、検出器を取り付けることにより様々な分析が可能です。
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB) ラインナップ
TECHNOLOGY / CASE STUDY 技術・事例
インタビュー、導入事例、開発秘話の形式で、ユーザーの皆様からいただいた声をご紹介します。現在の課題について解決のヒントが得られるかもしれません。ぜひ、ご覧ください。
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