日本電子は創立70周年
70年目の転進

- Evolving in the 70TH YEAR -
2019年、日本電子は創業70周年を迎えました。
私たちが進むべき新たな指針として掲げたのは「70年目の転進」。
これからの日本電子の目指す姿、その担い手たちをご紹介します。
JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-F100 Schottky FE-SEM

JSM-F100は、定評のあるインレンズショットキーPlus 電界放出電子銃と電子光学系Neo Engineに加えて、新開発の操作GUI『SEM Center』とAI (人工知能) を応用した『LIVE-AIフィルター』を搭載し、高空間分解能観察と操作性の両立を実現しました。

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■技術情報　•大容量型LV冷却ホルダーを用いたLVクライオSEM法のご紹介
■アプリケーションノート　•食感に関わるアイスクリーム組織の定量評価
■ サービス紹介　•2019年度 オーバーホール早期トクトクキャンペーンのご案内
•「走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品」カタログのご案内
■講習会スケジュール


試料: 羽
観察装置: JSM-IT500(表紙左), JCM-7000(表紙右2つ), 加速電圧: 10kV, 条件: 二次電子像観察
JEOL NEWS
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最新号 Vol.54 No.1

日本電子news

最新号 Vol.51 No.1
・反応科学超高圧電子顕微鏡と四重極質量分析計による新しいオペランド測定システム開発
・トリプルCプロジェクトによる低加速電子顕微鏡の開発とカーボン単原子の分析
・循環型極低温ヘリウムMASを用いる高磁場DNP－NMR
・"オペランド ESR 法"で探る有機エレクトロニクス材料　他
多数のアプリケーションを掲載しております
WEB SEMINAR
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SEMINAR

2019年9月27日(金) 16:00～16:30「環境セル型試料ホルダーを用いたその場観察実験」
2019年10月18日(金) 16:00～16:30「ウルトラミクロトームによる高分子試料作製方法」
2019年11月29日(金) 16:00～16:30「QMSユーザー必見！JEOLのQMS便利機能のご紹介」

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70th

70年目の転進 Evolving in the 70TH YEAR

2019年、日本電子は創業70周年を迎えました。
私たちが進むべき新たな指針として掲げたのは「70年目の転進」。
これらの日本電子の目指す姿、その担い手たちをご紹介します。

 インタビュー

インタビュー INTERVIEW

JEOLの製品をご導入されたユーザーの皆様の声をご紹介いたします。

 YOKOGUSHI

YOKOGUSHI YOKOGUSHI

JEOLが取り組む「YOKOGUSHI」戦略をご紹介いたします。

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講習 TRAINING

装置性能をフルに引き出していただけるよう豊富なコースで各種講習を行っております。

 YOKOGUSHI

ユーザーズミーティング User's Meeting

長年に渡り、日本電子からの技術情報のご提供とユーザー様同士のご交流でご好評頂いています。

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キャンペーン CAMPAIGN

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進化した信頼性を未来へ～NMRの挑戦～ NMR Challenge

"定量分析"の信頼性を高めるために最近注目されている定量NMR（qNMR）法をご紹介します。