日本電子株式会社－Solutions for Innovation

JEOL NEWS

Latest issue Vol.55 No.1

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■製品紹介　•JSM-IT800 Super Hybrid Lens (SHL)
■サービス紹介
　•周辺機器カタログのご案内
　•JEOLからの在宅支援サービスのご案内
　•理科支援授業「のぞいてみようミクロの世界」のご紹介
■講習会スケジュール

カバー画像: 不織布マスク　装置: JCM-7000

複合ビーム加工観察装置

JIB-4700F

"観察"の一歩先へ

UrushiNote

漆とは
各種機器分析法の特徴と応用例
TEM/SEM/XPS/ESR/NMR/MS/FT-IR
ウルシオール成分の分析【モノマー分析】
漆の硬化過程解析【成膜時の経時変化解析】
成膜条件の異なる漆膜の比較【比較分析】
漆の耐熱性評価【熱劣化解析】
多糖（ゴム質）の検出【微量成分分析】

JEOL-Nikon
CLEMソリューションセンター

WEB SEMINAR

2020年6月25日(木) 16:00～16:30「光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム miXcroscopy™ の紹介」 ※終了
2020年7月8日(水) 16:00～16:30「光学顕微鏡像連動ソフトウェアを用いたリンケージシステムの紹介」 ※終了
2020年7月16日(木) 16:00～16:30「SiN window chipの応用例～TEM広視野観察、on chip CLEM、serial section TEMについて～」 ※終了
2020年7月22日(水) 16:00～16:30「細胞内部構造のCLEMを簡便に実現する手法（polish/milling-CLEM）の紹介」 ※終了
2020年8月26日(水) 16:00～16:30「Cleanlines CLEMのご紹介～ISO16232 に準拠した清浄度検査システム～」

JEOL Online EXPO

オンライン展示会

展示会や学会で当社が展示しましたパネルや動画、カタログ、セミナー発表資料などをダウンロードいただけます。

WEB
SEMINAR

2020年8月26日(水) 16:00～16:30「Cleanlines CLEMのご紹介～ISO16232 に準拠した清浄度検査システム～」
2020年8月27日(木) 16:00～16:30「ポリマー分析の新展開熱分解・熱脱着DART-MSによるキャラクタリゼーション「よろず相談会」も実施」
2020年8月28日(金) 16:00～16:30「X線マイクロCTの基礎と実際」
2020年9月18日(金) 16:00～16:30「TOCSYの使い方～オリゴ糖の実例とともに～」