日本電子株式会社－Solutions for Innovation

「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■製品紹介　•JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置
■サービス紹介　•受託分析はご存知ですか？～電子顕微鏡～　■講習会スケジュール

試料: 清涼菓子 (ミントタブレット)
観察装置: JSM-IT200, 加速電圧: 7kV, 倍率: 5000倍

JIB-4000PLUS

加速したGaイオンビームを集束し試料に照射する事で、試料表面のSIM像観察、ミリング加工、カーボンやタングステンなどのデポジションが行えます。
断面試料の作製や、三次元観察機能、自動TEM試料作製機能を搭載できますので、試料作製の多様なニーズにお答えします。

JMS-TQ4000GC

高性能 GC-MS 開発で培った技術と経験を注ぎこんだ新しいコンセプトのトリプル QMS
独自の技術により、高速・高感度測定を実現しました

NMR REMOTE
SHARING SERVICE

Webを通じて遠隔で操作を行い必要なときにだけNMRを利用できる共有システムです。
初期投資・維持費不要で利用が可能です。

WEB
SEMINAR

2019年5月24日(金) 16:00～16:30「断面解析やってますか？～多様な試料のCP試料作製ノウハウ教えます～」
2019年6月27日(木) 16:00～16:30「ポリマー解析ソフトウェアの決定版！複雑なマススペクトルを可視化するmsRepeatFinder ～KMDプロットの活用～」
2019年6月28日(金) 16:00～16:30「樹脂も、液体も、定量分析にはXRF！自動厚さ補正機能を活かしたスマートFP法の分析事例」
2019年7月19日(金) 16:00～16:30「FIB-SEM による三次元測定の原理と応用例」
2019年8月28日(水) 16:00～16:30「更なる進化！更なる効率化！高分解能GC-MSをより身近にする自動定性解析システムmsFineAnalysis」
2019年8月30日(金) 16:00～16:30「粒子解析による自動元素分析」