日本電子株式会社－Solutions for Innovation－

JMS-TQ4000GC　ガスクロマトグラフ－三連四重極質量分析計

JMS-TQ4000GC

高性能 GC-MS 開発で培った技術と経験を注ぎこんだ新しいコンセプトのトリプル QMS
独自の技術により、高速・高感度測定を実現しました

最新号 Vol.53 No.1

Fast Pixelated Detectors: A New Era for STEM
Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy of La₂CuO₄-based Superconducting Interfaces
at the Stuttgart Center for Electron Microscopy
Technical Development of Electron Cryomicroscopy and Contributions to Life Sciences
Electronic State Analysis by Monochromated STEM-EELS

多数のアプリケーションを掲載しております

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■製品紹介　•JMS-T200GC/msFineAnalysis
■サービス紹介　•耐震ゲルマット付き装置固定金具 Jeol-mat　■講習会スケジュール

2018年9月21日(金) 16:00～16:30「JEM-Z300FSC（CRYO ARM™ 300)電解放出形クライオ電子顕微鏡のご紹介」
2018年10月19日(金) 16:00～16:30「シングルビームFIB 最新機能のご紹介」
2018年11月2日(金) 16:00～16:30「生物が作る結晶の低加速電圧EBSD分析～真珠層編～」
2018年11月16日(金) 16:00～16:30「ICPユーザー必見！ED-XRFによる微量元素の検出下限～スクリーニングからppmオーダー分析まで～」
2018年12月7日(金) 16:00～16:30「断面試料作製法の検討① 先発医薬品と後発医薬品（ジェネリック医薬品）の構造を比較」
2018年12月21日(金) 16:00～16:30「JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡のご紹介」

APPLICATIONS
NOTE

日本電子では世界トップレベルの理化学機器をお届けするハイエンド装置メーカーとして、
アプリケーションおよび技術情報を豊富に取り揃えています。

SERVICE
& SOLUTION

弊社製品をご採用いただいたお客様に、最適かつ迅速なトータルソリューションをご提供
するため、幅広い分野の研究開発・品質管理を専門スタッフがサポートします。

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JEOLの製品をご導入されたユーザーの皆様の声をご紹介いたします。

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JEOLが取り組む「YOKOGUSHI」戦略をご紹介いたします。

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JEOLの製品をご購入いただいたお客様の導入事例をご紹介いたします。

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ワカラナイ？ものを、わかるように。
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開発秘話 STORY

JEOLの製品開発の裏側をご紹介いたします。
開発者の情熱がここに。

Introduction to JEOL Products

やさしい科学 INTRODUCTION TO JEOL PRODUCTS

科学はすべての人のために・・・の願いを込めてお届けします。

進化した信頼性を未来へ～NMRの挑戦～ NMR Challenge

"定量分析"の信頼性を高めるために最近注目されている定量NMR（qNMR）法をご紹介します。