日本電子株式会社－Solutions for Innovation

- Evolving in the 70TH YEAR -
2019年、日本電子は創業70周年を迎えました。
私たちが進むべき新たな指針として掲げたのは「70年目の転進」。
これからの日本電子の目指す姿、その担い手たちをご紹介します。

JEM-ARM300F2 GRAND ARM(TM)2 原子分解能分析電子顕微鏡

原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F "GRAND ARM™" をさらに進化させ、低加速から高加速までさまざまな加速電圧にて、超高空間分解能観察と高感度分析を両立させた原子分解能分析電子顕微鏡登場！

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■製品紹介　•JXA-iHP200F •JXA-iSP100 •JMS-S3000 SpiralTOF™-plus
■サービス紹介　•ブリッジングサービスのご紹介　■講習会スケジュール

カバー画像: 富士山の玄武岩　装置: JXA-iHP200F　撮影倍率: x500

JXA-iSP100

JXA-iSP100は、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

JXA-iHP200F

JXA-iHP200Fは、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

WEB
SEMINAR

2020年2月27日(木) 16:00～16:30「ノウハウ教えます！ポリマー解析におけるMALDI-TOFMSの試料調製法」
2020年2月28日(金) 16:00～16:30「AESを使った金電極表面の汚れ・異物解析」
2020年3月13日(木) 16:00～16:30「FIB試料作製でお困りの方へ～FIB加工の基礎知識が分かります～」
2020年3月19日(金) 16:00～16:30「塗膜片中PCB分析のJEOLからのご提案～測定から解析まで～」
2020年4月9日(木) 16:00～16:30「ノウハウ教えます第2弾！ポリマー分析におけるMALDI-TOFMSの効率的な解析手法」