日本電子株式会社－Solutions for Innovation

最新号 Vol.52 No.1
・微分位相コントラスト法による有機材料の静電ポテンシャルイメージング
・超高圧クライオ電子顕微鏡による生体構造の可視化
・STEMによる位相物体の観察 ‒微分位相コントラスト(DPC)法他
多数のアプリケーションを掲載しております

JEOL Online EXPO

オンライン展示会

展示会や学会で当社が展示しましたパネルや動画、カタログ、セミナー発表資料などをダウンロードいただけます。

最新号
■トピックス　■JEOL INFORMATION
■製品紹介　•JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
■サービス紹介
　•「JEM-ARM200F NEOARM」のシェアリングサービスを2020年4月より開始!!!
　•「イオンビーム応用装置用試料ホルダーおよび消耗品」カタログのご案内
■講習会スケジュール

カバー画像: ゼオライトの構造観察　装置: JEM-ARM200F

JXA-iSP100

JXA-iSP100は、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

JXA-iHP200F

JXA-iHP200Fは、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

WEB
SEMINAR

2020年6月11日(木) 16:00～16:30「ノウハウ教えます第3弾！ポリマー分析におけるMALDI-TOFMSの基礎知識～セミナー終了後『WEBよろず相談会』実施します～」
2020年6月17日(水) 16:00～16:30「ダイオキシンMSユーザー必見！JMS-800D UltraFOCUS™で出来ること～セミナー終了後『WEBよろず相談会』実施します～」
2020年6月18日(木) 16:00～16:30「GC-MS定性分析における課題解決第2弾:キャリアガスに窒素を用いる際の留意点～セミナー終了後『WEBよろず相談会』実施します～」
2020年6月19日(金) 16:00～17:00「No-D NMR ～重水素化溶媒を使用しない溶液NMR測定～」
2020年7月3日(木) 16:00～16:30「Battery analysis 『In-situ その場で分析するJEOLの質量分析計』」