ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800(i)/(is)
高性能SEMをすべてのユーザーに
電子ビーム金属3Dプリンター
JAM-5200EBM
JEOL Seminar/Webinar
WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。 皆さまのご参加をお待ちしております。
APPLICATIONS NOTE
日本電子では世界トップレベルの理科学機器をお届けするハイエンド装置メーカーとして、 アプリケーションおよび技術情報を豊富に取り揃えています。
キャンペーン
新製品一覧
採用情報
オンライン展示会
特殊試料ホルダー & アダプターのご紹介
過去の動画 (ウェビナー一覧)
受託分析
理科教育支援
2021FY 東北BMセミナー
開催日：10/27(水)
ビギナーから使える！透過電子顕微鏡JEM-F200の可能性！-従来の手法からその場観察、結晶方位回折まで-
開催日：11/19(金)
SEMとμフォーカスX線CTを活用した3D構造評価のご紹介
開催日：11/2(火)
全固体電池材料 / シリコン負極・固体電解質の分析事例紹介
開催日：10/15(金)
イオンビーム製品 (CPとFIB) を利用した半導体チップ内部の特定個所における断面作製法の紹介
開催日：10/29(金)
