Conductive AFM Probes AIOE
形状の異なる4本のカンチレバーが1チップ基板上に構成されたカンチレバーで、Contact Mode, AC Mode（Tapping）,Force Modulation, Noncontact Modeまで多くのAFMモードで使用可能なカンチレバーです。
各カンチレバーの仕様は、Contact,Multi75,Tap150,Tap300と同等です。
導電性材料としてシリコン表面にクロム5nm、そして最表面に白金25nmをコーティングしています。
用途：走査型容量顕微鏡（SCM）、静電気力顕微鏡（EFM）、リソグラフィー など
AIOE
| カンチレバー | 適用 | 類似品 | 仕様（代表値） |
|---|---|---|---|
| A | Contact Mode | ContAl | 共振周波数: 15 kHz
ばね定数: 0.2 N/m |
| B | Force modulation,
Pulsed Force Mode |
Multi75Al | 共振周波数: 80 kHz
ばね定数: 2.7 N/m |
| C | Soft Tapping, AC-Mode,
Noncontact-Mode |
Tap150Al-G | 共振周波数: 150 kHz
ばね定数: 7.4 N/m |
| D | apping , AC-Mode,
Noncontact-Mode |
ap300Al | 共振周波数: 350 kHz
ばね定数: 40 N/m |
