SiN window chipの応用例 ～TEM広視野観察、on chip CLEM、serial section TEMについて～
公開日： 2020/06/23
日本電子では、透過電子顕微鏡のための広視野観察用の試料支持体として、SiN window chipを開発しました。
本chipは、1×2㎜2のSiN薄膜をもち、ゴニオメーターの可動範囲全体を格子などのケラレなく観察することができます。
本WEBセミナーでは、SiN window chipの応用例として、TEMによる広視野観察や、on chip CLEMと名付けた新しいCLEM観察手法、そして連続切片観察から三次元構造を再構築するserial section TEMについて紹介、解説します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年7月16日 (木) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
- お申込みはこちらから
※WEBセミナーの登録・参加方法に変更があります。詳細は こちら (PDF 955KB)をご覧ください。
※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
※競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部
廣川 (ひろかわ)
jeol_event[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
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