SMILE VIEW™ Mapは、走査電子顕微鏡の画像から試料表面の三次元再構築および様々な分析を可能にするソフトウェアです。 SMILE VIEW™ Mapは、ナノテクノロジー、金属、半導体、セラミック、医療、生物など、広範囲に亘るアプリケーション分野において、大きな効果が期待できます。
特長
高速画像処理による走査電子顕微鏡の画像から表面形状の三次元再構築。
三次元表示はあらゆる条件にも対応し、計測も可能。
走査電子顕微鏡の画像に数クリックで着色。
最新の規格に従った表面粗さ、構造の特性評価 (ISO,JIS,ASME等) 。
レポート作成が簡単。
データから正確且つ直観的に分かりやすい解析レポートを一般的なフォーマットで作成できます。ワークフローの表示により計測、解析の編集が簡単。
直観的で相互的なワークフロー表示となっており、作業スループットが向上します。
はんだの表面形状を走査電子顕微鏡画像から三次元再構築
計測、解析結果のレポート作成が簡単
計測、解析結果は一般的なフォーマットへ出力できます
SMILE VIEW™ Mapは走査電子顕微鏡データの三次元化、計測、解析に対して非常に精度の高いツールです。
SMILE VIEW™ Mapは、JEOLの走査電子顕微鏡製品とその各種分野において、使いやすいソフトウエアインターフェースになります。
JEOL Ltd. is a world leader in electron optical equipment and instrumentation for high-end scientificand industrial research and development.Core product groups include electron microscopes (SEMs and TEMs), instruments for the semiconductor industry and analytical instruments.
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