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Marking CLEM - Marking CLEM / アスベストCLEM法 -

Marking CLEM

特長

光学顕微鏡観察で検出した異物に、マーカーを押すだけで簡単にCLEM観察を行えます。異物の数が少なく、他の分析を行う必要がないときに便利な手法です。

Marking CLEM Workflow

光学顕微鏡 (LM)

光学顕微鏡 (LM)

光学顕微鏡でSEM分析したい異物を撮影

光学顕微鏡 (LM)

オブジェクトマーカーでマーキング

光学顕微鏡 (LM)

5x対物レンズを使用しマーク全体を撮影

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)

マーキングした試料をSEMに挿入

走査電子顕微鏡 (SEM)

SEM操作画面上の光学像を利用してオブジェクトマーカーの位置に視野移動

走査電子顕微鏡 (SEM)

対象異物にフォーカス

走査電子顕微鏡 (SEM)

対象異物を拡大

走査電子顕微鏡 (SEM)

EDS元素分析

関連アプリケーション

アスベストCLEM法

特長

光学顕微鏡で観察、計数し見つけた繊維状物質をSEMで観察、分析するための手法です。公定法に則って透明化したフィルターにカバーガラスではなくカーボンコーティングを施すだけのひと工夫と、マーカーにより簡単にCLEM観察を行えます。

アスベストCLEM法 Workflow

試料作製

試料作製

光学顕微鏡 (LM)

光学顕微鏡 (LM)

ノーカバー位相差観察で計数後、SEM分析対象繊維を視野中央に移動して撮影

光学顕微鏡 (LM)

オブジェクトマーカーでマーキング

光学顕微鏡 (LM)

4x対物レンズを使用しマーキング全体を撮影

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)

マーキングした試料をSEMに挿入

走査電子顕微鏡 (SEM)

SEM操作画面上の光学像でオブジェクトマーカーの位置に視野移動

走査電子顕微鏡 (SEM)

対象アスベストにフォーカス

走査電子顕微鏡 (SEM)

関連アプリケーション