JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター
走査電子顕微鏡を用いた
アスベスト分析 (A-SEM法／アスベストCLEM法) のご案内
このたび環境分析業務に携わられている方々を対象に、SEMによるアスベスト分析のWebデモンストレーションを企画いたしました。
A-SEM法やアスベストCLEM法に興味があり、実際の操作や測定方法をご覧になりたいというお問合せを多数いただいておりますが、今は出張が厳しい状況です。
Webデモンストレーションで技術スタッフによる実機でのアスベスト分析をご覧いただけます。
Webデモンストレーションを伴わないアスベスト分析に関するご相談も、こちらのお問合せフォームをご利用ください。
Webデモンストレーション内容
アスベスト分析に役立つ最近のSEMの便利機能
新しいアスベスト測定法（アスベストCLEM法）
アスベスト分析以外のSEM活用事例
Webでつないで実機を見学頂けます。
お申し込みからWebデモンストレーション実施までの流れ
ご希望の際は、お申込み・お問合せフォームよりお申し込みください。
担当者より折り返しご連絡を差し上げます。
その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。指定日時にオンラインデモを開始いたします。
当日は基本的にPC音声マイクを通してご案内いたします。
担当者がオンラインデモ対応PCの持ち込みを行うことも可能です。
＊A-SEM法に関するご相談も、こちらからご連絡ください。
CLEMとは
CLEMとは、Correlative Light and Electron Microscopy の略で、「光電子相関顕微鏡法」と呼ばれています。光学顕微鏡（LM）と、透過電子顕微鏡（TEM）または走査電子顕微鏡（SEM）で同じ試料を観察し、それぞれから得られる情報を連携させることで、双方のメリットを活かした効果的な観察や分析を行う方法です。
CLEMソリューションセンターの目的・概要
当社と株式会社ニコンは、CLEMに関するお客様へのデモンストレーションや技術情報の発信･収集を目的に、2017年９月に共同でCLEMソリューションセンターを開設しました。
| 住所 | 東京都昭島市武蔵野3-1-2 日本電子株式会社開発館内 |
|---|---|
| 主な設備品目 | 光学顕微鏡（LM） （共焦点レーザー顕微鏡システム、工業用顕微鏡、実体顕微鏡） 電子顕微鏡（TEM, SEM, EPMA） （透過電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザー） 各種試料作製機器 |
| デモンストレーション | 完全予約制 |
| お問い合わせ | TEL: 03-6262-3567（SI営業本部 SI販促室） |
CLEMソリューションご紹介
CLEMを実現するには試料や目的に応じ、最適な処理手順（Workflow）を構築することも重要となります。当社とニコンは「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」で、様々な試料の観察や分析を通じ、お客様の課題解決を図ってきました。その中から代表的なWorkflowをご紹介いたします。詳細ボタンをクリックすると、各項目の詳細な説明が表示されます。
JEOLが提供するCLEM Workflow & システム
| CLEM 名称 | Workflow | 特長 | アプリケーション |
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| Stage Linkage CLEM |
走査電子顕微鏡 JSM-6480 
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Cleanliness CLEM (C-Linkage) 
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| Image Overlay CLEM |
光学顕微鏡像連動ソフトウェア 
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| Marking CLEM |
Marking CLEM 
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| CLEM for Life Science |
polish CLEM 
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on chip CLEM 
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LLP-CLEM 
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CLEMアプリケーションご紹介
CLEMを利用した様々なアプリケーション例を紹介します。
画像をクリックするとアプリケーションページへ遷移します。
産業・材料分野への応用
バイオサイエンス分野への応用
CLEM ウェビナーの過去動画
ウェビナーの過去動画を掲載しております。
リンクより詳細内容をご覧いただくことができます。是非、お申し込みください。